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BaTiO_(3)基超薄层BME MLCC的可靠性机理
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作者 朱超琼 蔡子明 +5 位作者 冯培忠 张伟晨 惠可臻 曹秀华 付振晓 王晓慧 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2024年第1期32-41,共10页
多层陶瓷电容器(Multilayer ceramic capacitors,MLCC)作为市场占有率最高的无源电子元器件,是基础电子元件产业中需要突破关键技术的重点产品之一,在汽车电子、5G通讯、电网调频、航空航天等领域有广泛的应用。在小型化、薄层化发展趋... 多层陶瓷电容器(Multilayer ceramic capacitors,MLCC)作为市场占有率最高的无源电子元器件,是基础电子元件产业中需要突破关键技术的重点产品之一,在汽车电子、5G通讯、电网调频、航空航天等领域有广泛的应用。在小型化、薄层化发展趋势下,MLCC的介质层厚度不断降低,单层介质在相同电压下的电场显著增大,尤其是中高压超薄层MLCC。因此,MLCC的可靠性愈发成为一项关键的产品质量指标。本文结合加速老化测试、高温阻抗谱、漏电流测试,系统研究超薄层MLCC的劣化机理,揭示抑制氧空位的迁移与富集是保证超薄层MLCC可靠性的重中之重。为此,应减小介质层内部的氧空位浓度,增大其迁移所需的激活能,提高界面肖特基势垒,从而提升超薄层MLCC的可靠性。本文的研究成果为超薄层MLCC介质材料的设计提供了有力指导。 展开更多
关键词 钛酸钡 多层陶瓷电容器 可靠性 加速老化 氧空位
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SF6气体数字式密度继电器的自诊断系统研究
2
作者 商琼玲 朱榜超 《电工技术》 2024年第13期146-149,153,共5页
SF6气体数字式密度继电器内置的压力传感器在长期运行后,故障发生概率会提高,并伴随老化引起的参数漂移,影响密度监测结果,进而可能导致气室泄漏误判。为准确判别密度变化原因是压力传感器老化漂移或气室泄漏,提出了基于双压力传感器的... SF6气体数字式密度继电器内置的压力传感器在长期运行后,故障发生概率会提高,并伴随老化引起的参数漂移,影响密度监测结果,进而可能导致气室泄漏误判。为准确判别密度变化原因是压力传感器老化漂移或气室泄漏,提出了基于双压力传感器的数字式密度继电器自诊断技术。通过老化试验获取双压力传感器漂移模型,并研究基于双压力传感器漂移模型的自诊断系统,在有效提高数字式密度继电器可靠性的同时完成对压力传感器漂移的准确判定。 展开更多
关键词 数字式密度继电器 双压力传感器 老化漂移 自诊断 可靠性
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Approach for Reliability Evaluation of Cross-Linked Polyethylene Under Combined Thermal and Vibration Stresses 被引量:2
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作者 LIU Jiz ZHANG Mingze +1 位作者 CHEN Xin QI Pengshuai 《Journal of Shanghai Jiaotong university(Science)》 EI 2018年第6期758-763,共6页
Based on Wiener process model, a new approach for reliability evaluation of cross-linked polyethylene(XLPE) is proposed to improve the lifetime evaluation reliability of XLPE under multi-stressing conditions and study... Based on Wiener process model, a new approach for reliability evaluation of cross-linked polyethylene(XLPE) is proposed to improve the lifetime evaluation reliability of XLPE under multi-stressing conditions and study the failure probability distribution. In this paper, two accelerated aging tests are carried out under combined thermal and vibration conditions. The volume resistance degradation data of XLPE samples are tested with a24 h interval under the accelerated stressing conditions at(130℃, 12 m/s^2) and(150℃, 8.5 m/s^2), respectively.Nonlinear degradation data obtained from the experiment are transformed to linear intermediate-variable values using time scaling function, and then linearized degradation data are calculated and evaluated on the basis of linear Wiener process model. Considering traditional Arrhenius equation and inverse power criterion, parameters of the linear Wiener model are estimated according to the maximum likelihood function. The relationship curves on probability density and reliability are given, and the lifetime distribution of XLPE under different stressing conditions is also obtained for evaluating the reliability of XLPE insulation. Finally, the life expectancy of XLPE is 17.9 a under an allowance temperature of 90℃ and an actual vibration acceleration of 0.5 m/s^2. The approach and results in this paper may be used for reliability assessment of high-voltage multiple samples or apparatuses. 展开更多
关键词 accelerated multifactor aging lifetime evaluation reliability distribution degradation test crosslinked polyethylene(XLPE)
原文传递
功率器件高温可靠性测试加速老化模型及其测试条件综述 被引量:3
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作者 王延浩 邓二平 +2 位作者 严雨行 吴立信 黄永章 《华北电力大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2023年第5期68-77,86,共11页
高温可靠性测试如高温栅偏(High Temperature Gate Bias,HTGB)、高温反偏(High Temperature Reverse Bias,HTRB)、高温高湿反偏(High Humidity High Temperature Reverse Bias,H3TRB)是器件出厂和寿命评估必备的测试。然而,不同标准的... 高温可靠性测试如高温栅偏(High Temperature Gate Bias,HTGB)、高温反偏(High Temperature Reverse Bias,HTRB)、高温高湿反偏(High Humidity High Temperature Reverse Bias,H3TRB)是器件出厂和寿命评估必备的测试。然而,不同标准的测试条件不尽相同,其对应的内在机理也不明确。为讨论测试条件的确定原则,首先从单个和耦合的温度、电场、湿度加速老化模型出发,论述了相关测试标准所用模型,分析了其应用范围和使用原则。进一步地,总结了现有各类标准下的测试条件,计算了电动汽车模块正常运行30年所需HTGB、HTRB、H3TRB加速老化时间分别为832 h、866 h、1038 h,测试的样本数均为70,并指出测试时间、样本数需根据实际工况决定。最后,基于以上分析,提出了一种加速老化时间、样本数可调的高温可靠性测试流程。 展开更多
关键词 高温可靠性测试 加速老化模型 寿命评估 测试标准 测试条件
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通过主动加速恢复延长芯片寿命:机遇与挑战
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作者 郭鑫斐 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2023年第9期3057-3068,共12页
新型工艺下芯片集成度的提高和尺寸的缩小导致了器件内部电场和电流密度的不断增加,使得老化问题日趋严重,当前针对老化主要的防护思路依然是采取保护带和预留时序裕量的方式,但该方法会导致过度设计。近年来,多项研究工作从实验的角度... 新型工艺下芯片集成度的提高和尺寸的缩小导致了器件内部电场和电流密度的不断增加,使得老化问题日趋严重,当前针对老化主要的防护思路依然是采取保护带和预留时序裕量的方式,但该方法会导致过度设计。近年来,多项研究工作从实验的角度证明了芯片的主要老化机制具有一定的可恢复性,恢复过程且可被加速,从而大幅降低设计初期的时序裕量,由此启发了主动加速恢复的设计思路。该文回顾了老化防护的已有设计方法和主动加速恢复的相关进展,分析了主动加速恢复的潜在优势,并讨论了从模型、电路设计以及系统设计等角度进行片上实现所面临的瓶颈问题和相应的解决方法,提出了以感知-主动加速恢复为核心的自适应老化防护设计概念。 展开更多
关键词 主动加速恢复 可靠性 老化 温度偏置不稳定性 电迁移
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基于失效分析的轨道交通断路器服役可靠性评价
6
作者 黄晓博 《环境技术》 2023年第1期53-57,共5页
本文基于实车数据调研与失效分析手段,通过模拟实际环境的加速老化试验,对轨道交通用断路器进行劣化分析并进行服役可靠性评价。旨在通过失效分析手段获取断路器应力薄弱点。并以此为依据设计加速老化试验,建立寿命预测模型,对故障出现... 本文基于实车数据调研与失效分析手段,通过模拟实际环境的加速老化试验,对轨道交通用断路器进行劣化分析并进行服役可靠性评价。旨在通过失效分析手段获取断路器应力薄弱点。并以此为依据设计加速老化试验,建立寿命预测模型,对故障出现时间与表征进行提前预判,以达到评估断路器服役可靠性的目的。以某款断路器为例,通过试验数据与分析,获得服役可靠性寿命为32.7~48.4年,能满足服役与检修要求,也为日常使用与更换维修决策提供依据。 展开更多
关键词 断路器 失效分析 加速老化 服役可靠性
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大功率半导体激光器加速寿命测试方法 被引量:14
7
作者 荣宝辉 王晓燕 +3 位作者 安振峰 仲琳 陈国鹰 张存善 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第4期360-362,共3页
大功率半导体激光器在高可靠性光学系统的应用中,寿命值预测十分关键。采用808nm波长的无Al大功率半导体单管激光器进行了40、80℃的恒定温度的加速老化试验。应用Arrhenius和对数正态分布的理论对试验结果进行分析,计算出激光器长期退... 大功率半导体激光器在高可靠性光学系统的应用中,寿命值预测十分关键。采用808nm波长的无Al大功率半导体单管激光器进行了40、80℃的恒定温度的加速老化试验。应用Arrhenius和对数正态分布的理论对试验结果进行分析,计算出激光器长期退化的激活能为0.52eV,推导得到激光器室温下工作的平均寿命为15000h。并对试验后的器件进行失效分析,找出失效原因。 展开更多
关键词 半导体激光器 加速老化 可靠性 寿命试验
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IGBT模块寿命预测模型综述 被引量:33
8
作者 方鑫 周雒维 +3 位作者 姚丹 杜雄 孙鹏菊 吴军科 《电源学报》 CSCD 2014年第3期14-21,共8页
在风力发电、柔性交流输电以及电机牵引和航空中等应用的变流器系统失效中,IGBT的失效所占比重较大。因此,相继提出了一些IGBT寿命预测的模型以研究其可靠性。为给系统可靠性设计者以及终端用户提供更多变流器中IGBT模块的寿命信息,文... 在风力发电、柔性交流输电以及电机牵引和航空中等应用的变流器系统失效中,IGBT的失效所占比重较大。因此,相继提出了一些IGBT寿命预测的模型以研究其可靠性。为给系统可靠性设计者以及终端用户提供更多变流器中IGBT模块的寿命信息,文中综述了IGBT寿命预测模型的发展与研究现状。根据建模方法的不同,寿命模型可分为解析模型和物理模型两大类。文中对不同模型的建模依据分别做出了说明,在分析IGBT常见失效机理的基础上,对比分析了各模型在实际应用中的精确度、通用性与局限性。同时,介绍了加速老化试验对寿命预测模型的影响。最后,讨论了IGBT模块寿命预测模型的挑战与发展趋势。 展开更多
关键词 IGBT 可靠性 失效机理 寿命预测模型 加速老化试验
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密封式电磁继电器贮存加速寿命试验方法研究 被引量:12
9
作者 骆燕燕 陆俭国 +1 位作者 李文华 王立忠 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第8期997-1001,共5页
随着我国航空与空间技术的迅速发展,对密封式电磁继电器可靠性提出了更高的要求。着重研究了密封式电磁继电器在贮存期间的可靠性问题。在分析了贮存条件下电磁继电器失效机理的基础上,提出了一种快速评价其贮存寿命的试验方法,即在恒... 随着我国航空与空间技术的迅速发展,对密封式电磁继电器可靠性提出了更高的要求。着重研究了密封式电磁继电器在贮存期间的可靠性问题。在分析了贮存条件下电磁继电器失效机理的基础上,提出了一种快速评价其贮存寿命的试验方法,即在恒定应力贮存加速寿命试验方法的设计中,对试验加速应力类型的选择,应力水平及试验样品数量,试验测试参数等进行了详细的分析。论文对密封式电磁继电器贮存加速寿命试验数据进行了处理,并得到了试验样品的贮存寿命预测数值。 展开更多
关键词 航空、航天系统工程 加速寿命试验 电磁继电器 贮存寿命 试验方法 可靠性
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IGBT加速老化实验研究 被引量:5
10
作者 毛娅婕 周雒维 +1 位作者 杜雄 孙鹏菊 《电源技术》 CAS CSCD 北大核心 2014年第12期2383-2385,2420,共4页
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)功率模块作为电力电子设备的关键器件被广泛应用,其工作寿命与可靠性将影响到整个装置或系统的正常运行,对于IGBT可靠性研究具有重要意义。IGBT加速老化实验是研究IGBT可靠性问题的重要方法,其在不改变产品故... 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)功率模块作为电力电子设备的关键器件被广泛应用,其工作寿命与可靠性将影响到整个装置或系统的正常运行,对于IGBT可靠性研究具有重要意义。IGBT加速老化实验是研究IGBT可靠性问题的重要方法,其在不改变产品故障机制的前提下,提高实验应力,加速产品的故障进程,能有效缩短实验时间,节约成本。分析了IGBT的失效机理,依据IEC标准,设计了IGBT直流功率循环加速老化实验,自行设计搭建了IGBT加速老化实验系统,能够完成器件的老化以及监测老化前后器件参数的变化。研究成果为IGBT模块的可靠性研究以及健康状态评估提供了重要依据。 展开更多
关键词 绝缘栅双极型晶体管 失效机理 加速寿命实验 可靠性
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IGBT功率模块加速老化方法综述 被引量:14
11
作者 李亚萍 周雒维 孙鹏菊 《电源学报》 CSCD 2016年第6期122-135,共14页
功率变流器的可靠性评估和寿命预测已经成为非常重要的研究课题。IGBT功率模块的大量使用在诸多领域里越来越广泛,它们的失效主要由热机械疲劳引起,而在正常工作运行时,这种疲劳老化过程很漫长。因此,为全面观察和探究功率模块的疲劳老... 功率变流器的可靠性评估和寿命预测已经成为非常重要的研究课题。IGBT功率模块的大量使用在诸多领域里越来越广泛,它们的失效主要由热机械疲劳引起,而在正常工作运行时,这种疲劳老化过程很漫长。因此,为全面观察和探究功率模块的疲劳老化失效过程,需要设计加速老化试验以缩短研究周期。最普遍的老化试验方法是对器件施加热应力和电应力,对器件不断热冲击实现加速老化进程的目的。文中主要归纳分析了各种加速老化方法的目的和差别,并重点总结了功率循环加速老化方法在不同试验条件、失效方式、试验持续时间、试验电路设计、监测的电气参数和热参数等方面的不同,目的在于提出加速老化方法的一般步骤和需要考虑的问题。最后根据这些问题对加速老化方法的研究进行了展望,为IGBT功率模块乃至整个变流器系统的失效机理分析、可靠性分析、寿命预测、健康状态评估和状态监测的研究奠定了基础。 展开更多
关键词 可靠性 功率循环 热循环 加速老化 先兆参量
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核电厂继电器加速老化分析及管理研究 被引量:1
12
作者 张圣 马沂荩 +3 位作者 江虹 陈世均 黄立军 莫春铌 《核动力工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第2期129-132,共4页
通过对大亚湾和岭澳核电站中压配电盘的中间和出口继电器老化与失效数据进行统计,分析核电厂继电器加速老化的主要因素。继电器加速老化的影响因素为运行环境,主要是湿度、温度和振动冲击;老化机理为氧化腐蚀、机械磨损、电磨损、有机... 通过对大亚湾和岭澳核电站中压配电盘的中间和出口继电器老化与失效数据进行统计,分析核电厂继电器加速老化的主要因素。继电器加速老化的影响因素为运行环境,主要是湿度、温度和振动冲击;老化机理为氧化腐蚀、机械磨损、电磨损、有机气体腐蚀、绝缘老化和电磁干扰。建议对继电器分类管理、替代使用,进行周期检测、更换或维护。 展开更多
关键词 继电器 加速老化 可靠性
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继电器贮存寿命加速试验装置的研究 被引量:4
13
作者 李文华 陆俭国 +1 位作者 刘宏勋 骆燕燕 《继电器》 CSCD 北大核心 2006年第20期70-72,共3页
继电器的应用十分广泛,其寿命和可靠性非常重要。寿命不仅仅是指电寿命和机械寿命,也包括贮存寿命。产品在贮存过程中处于非工作状态,因贮存而失效是长期的缓变过程,采用贮存寿命加速试验可大大缩短试验时间和费用。介绍了研制的继电器... 继电器的应用十分广泛,其寿命和可靠性非常重要。寿命不仅仅是指电寿命和机械寿命,也包括贮存寿命。产品在贮存过程中处于非工作状态,因贮存而失效是长期的缓变过程,采用贮存寿命加速试验可大大缩短试验时间和费用。介绍了研制的继电器贮存寿命加速试验装置,采用寿命加速试验方案能同时对处在不同应力水平下的多台继电器的多对触点进行电参数检测,以完成贮存寿命加速试验。进一步工作集中在进行长时间的试验并积累试验数据,进而预测贮存寿命。对失效试品作表面物理分析以便分析其失效机理,验证寿命加速试验是否正常。 展开更多
关键词 贮存寿命 继电器 寿命加速试验 加速应力 电器可靠性
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电磁继电器有机污染接触寿命评价方法 被引量:5
14
作者 刘建 恩云飞 +1 位作者 黄云 杨丹 《低压电器》 北大核心 2006年第9期8-10,共3页
由有机污染接触引起的失效在电磁继电器的使用和贮存过程中占有很大的比例。从这单一失效机理出发,基于失效物理的方法,通过恒定结合步进应力加速试验,计算出有机污染接触失效机理的激活能。同时提出有机污染接触失效机理决定的电磁继... 由有机污染接触引起的失效在电磁继电器的使用和贮存过程中占有很大的比例。从这单一失效机理出发,基于失效物理的方法,通过恒定结合步进应力加速试验,计算出有机污染接触失效机理的激活能。同时提出有机污染接触失效机理决定的电磁继电器贮存15年的寿命评价方案。 展开更多
关键词 电磁继电器 贮存寿命 加速试验 失效机理 可靠性
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密封式电磁继电器加速寿命试验最优方案设计与分析 被引量:4
15
作者 李凌 徐伟 《低压电器》 北大核心 2010年第4期13-16,共4页
以密封式电磁继电器为研究对象,分析其失效机理,应用极大似然理论,以在正常应力水平时密封式电磁继电器中位寿命估计值的渐进方差最小为目标,建立了寿命服从威布尔分布密封式电磁继电器加速寿命试验的最优方案模型;并以密封式电磁继电... 以密封式电磁继电器为研究对象,分析其失效机理,应用极大似然理论,以在正常应力水平时密封式电磁继电器中位寿命估计值的渐进方差最小为目标,建立了寿命服从威布尔分布密封式电磁继电器加速寿命试验的最优方案模型;并以密封式电磁继电器中位寿命方差的均值和标准离差作为试验方案优劣的评价指标,给出试验方案优劣的评价准则。模拟结果表明,提出的最优试验方案是可行的,可以实现受温度和湿度双应力作用下密封式电磁继电器可靠性水平的快速有效评定。 展开更多
关键词 加速寿命试验 密封式电磁继电器 威布尔分布 可靠性
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传导冷却高功率半导体激光器单巴器件CW工作模式下的热加速寿命试验 被引量:6
16
作者 聂志强 王明培 +2 位作者 孙玉博 李小宁 吴迪 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第9期1136-1145,共10页
可靠性是高功率半导体激光器(HLD)的一个重要性能。热加速寿命试验是HLD寿命评价和可靠性分析的重要技术。在本文中,我们在高温测试平台上对铟焊料封装的18个中心波长为808 nm的传导冷却型HLD单巴器件在恒定电流60 A条件下进行55,65,80... 可靠性是高功率半导体激光器(HLD)的一个重要性能。热加速寿命试验是HLD寿命评价和可靠性分析的重要技术。在本文中,我们在高温测试平台上对铟焊料封装的18个中心波长为808 nm的传导冷却型HLD单巴器件在恒定电流60 A条件下进行55,65,80℃3组热沉温度下的热加速寿命试验。根据器件输出功率在加速寿命测试期间的降低趋势,得到该批HLD器件的寿命分别为1 022,620,298 h,再根据Arrhenius公式得到该器件的激活能为0.565 41 eV,从而外推得到器件在室温下的寿命为5 762 h。可见55℃下器件寿命加速了5倍,而在65℃下寿命加速了8.5倍,80℃下寿命加速17倍。此外,我们还分析了器件热加速寿命试验后的性能。 展开更多
关键词 高功率半导体激光器 热加速寿命测试 可靠性 退化
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考虑性能退化的IGBT模块可靠性度量模型 被引量:2
17
作者 李玲玲 孙进 张鑫保 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2018年第12期930-935,共6页
提出了一种考虑性能退化因素的IGBT模块可靠性度量模型,该模型以广义应力-强度干涉模型为基础,同时考虑了应力和强度间的相关性以及使用过程中强度的退化性问题。分析了IGBT模块失效原因和失效类型,通过功率循环加速老化试验获取IGBT模... 提出了一种考虑性能退化因素的IGBT模块可靠性度量模型,该模型以广义应力-强度干涉模型为基础,同时考虑了应力和强度间的相关性以及使用过程中强度的退化性问题。分析了IGBT模块失效原因和失效类型,通过功率循环加速老化试验获取IGBT模块的退化数据,并选用Gamma分布来描述IGBT模块性能退化参数的退化过程;最后,根据广义应力-强度干涉模型求取某种应力环境下对应的IGBT模块可靠度,建立了广义应力与广义强度间的关系,计算得到IGBT模块在某种应力环境下的可靠度区间值。计算结果表明,与现有的可靠性度量模型相比,该方法能够实现IGBT模块可靠性度量,可应用于IGBT模块的器件选型。 展开更多
关键词 IGBT模块 加速老化试验 GAMMA分布 广义应力-强度干涉模型 可靠性度量
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光纤通信系统中光电探测器可靠性理论 被引量:3
18
作者 解金山 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1990年第2期171-181,共11页
本文详细而系统地论述了用于光纤通信系统中光电探测器的可靠性。其主要内容包括:从可靠性考虑器件的设计和制造;器件关键性参数和潜在的失效模式;探测器退化和接收机灵敏度的关系;可靠性基本概念和参数;加速老化试验;寿命试验结果与计算。
关键词 光纤通信系统 光电探测器 可靠性
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基于加速老化试验的电磁继电器寿命评估 被引量:1
19
作者 石颉 姚建林 朱斌 《低压电器》 2013年第17期58-62,共5页
对电磁继电器线圈的寿命决定因素进行了分析,深入研究了电磁继电器线圈的寿命评估方法,并开发了电磁继电器线圈的加速老化试验系统。针对一种48 V电磁继电器,按照标准要求进行了加速老化试验,根据试验数据,应用可靠性理论进行了寿命评估... 对电磁继电器线圈的寿命决定因素进行了分析,深入研究了电磁继电器线圈的寿命评估方法,并开发了电磁继电器线圈的加速老化试验系统。针对一种48 V电磁继电器,按照标准要求进行了加速老化试验,根据试验数据,应用可靠性理论进行了寿命评估,证明了方法的有效性。 展开更多
关键词 电磁继电器 线圈 寿命 加速老化试验 寿命评估
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808nm大功率半导体激光器可靠性分析 被引量:2
20
作者 李雅静 彭海涛 《光电技术应用》 2015年第4期5-7,79,共4页
激光器是理想的电光直接转换器件,延长半导体激光器的使用寿命,提高半导体激光器的可靠性,是大功率半导体激光器的研究热点。文中采用温度应力加速和电流步进应力两种老化方法对808 nm的大功率半导体激光器进行老化试验,得到寿命分别为1... 激光器是理想的电光直接转换器件,延长半导体激光器的使用寿命,提高半导体激光器的可靠性,是大功率半导体激光器的研究热点。文中采用温度应力加速和电流步进应力两种老化方法对808 nm的大功率半导体激光器进行老化试验,得到寿命分别为1 682 h和1 498 h,实验结果基本一致,并在显微镜下观察破坏性老化试验之后的器件,分析得到失效原因主要来自腔面退化、焊料退化和欧姆接触不良。 展开更多
关键词 大功率半导体激光器 温度应力加速老化 电流步进应力老化 可靠性分析
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