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脉宽调制器可靠性评估电路的设计与应用
1
作者
刘玉奎
《微电子学》
CAS
CSCD
1995年第5期41-44,共4页
本文介绍一种评价脉宽调制器可靠性和工艺控制水平的评估电路设计。它是针对X1525脉宽调制器的小批量试制和贯标而设计的。通过微电子测试图形对工艺的控制检测,和单机理失效的评估来对X1525的可靠性进行评价。该电路也适用...
本文介绍一种评价脉宽调制器可靠性和工艺控制水平的评估电路设计。它是针对X1525脉宽调制器的小批量试制和贯标而设计的。通过微电子测试图形对工艺的控制检测,和单机理失效的评估来对X1525的可靠性进行评价。该电路也适用于一般的双极IC的可靠性评估。文章给出了多种微电子测试图形及单机理评估电路和单元评估电路。
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关键词
可靠性
评估
脉宽调制器
双极型
集成电路
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职称材料
题名
脉宽调制器可靠性评估电路的设计与应用
1
作者
刘玉奎
机构
电子工业部第
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
1995年第5期41-44,共4页
文摘
本文介绍一种评价脉宽调制器可靠性和工艺控制水平的评估电路设计。它是针对X1525脉宽调制器的小批量试制和贯标而设计的。通过微电子测试图形对工艺的控制检测,和单机理失效的评估来对X1525的可靠性进行评价。该电路也适用于一般的双极IC的可靠性评估。文章给出了多种微电子测试图形及单机理评估电路和单元评估电路。
关键词
可靠性
评估
脉宽调制器
双极型
集成电路
Keywords
reliability evaluation
,
asic
,
pulse-width-modulator
分类号
TN787.207 [电子电信—电路与系统]
TN431.06 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
脉宽调制器可靠性评估电路的设计与应用
刘玉奎
《微电子学》
CAS
CSCD
1995
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