磁控管雷基图快速自动测绘技术

本文讨论微波磁控管负载特性曲线即雷基图的快速自动测绘技术。文中提出一种全新的测试原理与方案来实现微波负载阻抗的自动扫描，同时采用了预先设置功率门和频率门的方法实时采集测试数据，使这些数据在等值线生成过程中的利用率达到百分之百，整个测试时间小于８ｍｉｎ。