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X射线衍射Rietveld全谱图拟合法定量分析(ZnO-Al_2O_3)粉末 被引量:1
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作者 孙峰 《科技资讯》 2009年第20期65-65,共1页
应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了由氧化锌(ZnO)和刚玉(α-Al2O3)以不同的Al2O3质量百分比(5%~95%,以5%递增)组成的混合粉末。实验采用德国布鲁克公司D8ADVANCE型X射线衍射仪,CuKα靶,固体探测器,管电压40kV,管电流40mA... 应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了由氧化锌(ZnO)和刚玉(α-Al2O3)以不同的Al2O3质量百分比(5%~95%,以5%递增)组成的混合粉末。实验采用德国布鲁克公司D8ADVANCE型X射线衍射仪,CuKα靶,固体探测器,管电压40kV,管电流40mA,步进扫描收集衍射数据,经EVA软件定性分析,TOPAS软件定量分析,结果为:Rp平均等于6.68%,Rwp平均等于9.31%。结果表明用全谱图拟合法测定混合粉末中各相的含量是一种快速准确方便的方法。 展开更多
关键词 定量分析 氧化铝 氧化锌 X射线衍射 rietveld全谱图拟合法
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X射线衍射里特沃尔德全谱图拟合法测定粉尘中游离的SiO2 被引量:16
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作者 曾令民 杨喜英 +2 位作者 王力珩 李小萍 葛宪民 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2008年第5期599-603,共5页
应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了粉尘中游离SiO2的含量,并同时得到粉尘样品中其它晶相和非晶相物质的含量。实验采用日本理学D/MAX2500V型X射线衍射仪,CuKα辐射带石墨单色器,管电压44kV,管电流150mA,步进扫描收... 应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了粉尘中游离SiO2的含量,并同时得到粉尘样品中其它晶相和非晶相物质的含量。实验采用日本理学D/MAX2500V型X射线衍射仪,CuKα辐射带石墨单色器,管电压44kV,管电流150mA,步进扫描收集衍射数据,经Jade5.0软件定性分析,DBWS9807a软件定量分析,结果为:Rp平均等于11.29%,Rwp平均等于13.74%,Rexpected平均等于4.04%。SiO2在各样品中的含量为15.61%-37.83%;加标回收率为102.6%-119.9%;重现性测定相对标准偏差(RSD)为1.14%。结果表明:用Rietveld全谱图拟合法测定粉尘中游离SiO2的含量是一种快速、准确、方便的方法。 展开更多
关键词 定量分析 游离二氧化硅 非晶体 X射线衍射 rietveld全谱图拟合法
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Rietveld全谱拟合法测定莫来石固溶体含量 被引量:1
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作者 许聚良 李亚伟 陈汀水 《耐火材料》 CAS 北大核心 2009年第4期303-305,共3页
关键词 合成莫来石 rietveld 固溶体 合法 测定 高温性能 热膨胀系数 莫来石晶体
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铜冶炼炉渣的X射线衍射Rietveld全谱图拟合物相定量分析 被引量:7
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作者 唐梦奇 罗明贵 +2 位作者 韦彦强 唐书天 殷昕 《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 2016年第11期11-16,共6页
为了回收铜冶炼闪速熔炼炉渣和闪速吹炼炉渣中铜,首先利用X射线荧光光谱仪(XRF)对样品中的元素进行了分析,再利用X射线衍射仪(XRD)测定了闪速熔炼炉渣和闪速吹炼炉渣的物相组成,最后采用Rietveld全谱图拟合法分析出各个物相的含量。闪... 为了回收铜冶炼闪速熔炼炉渣和闪速吹炼炉渣中铜,首先利用X射线荧光光谱仪(XRF)对样品中的元素进行了分析,再利用X射线衍射仪(XRD)测定了闪速熔炼炉渣和闪速吹炼炉渣的物相组成,最后采用Rietveld全谱图拟合法分析出各个物相的含量。闪速熔炼炉渣的主要物相为Fe_2SiO_4和Fe_3O_4,其质量分数分别为75.04%和24.96%。闪速吹炼炉渣的主要物相为ZnFe_2O_4、Ca_4Fe_9O_(17)、Ca_2Fe_2O_5、CuFeO_2、Cu_2O、Cu和PbO,其质量分数分别为45.06%、10.01%、10.29%、6.29%、17.74%、9.12%和1.47%,闪速吹炼炉渣的主要物相与常规转炉吹炼炉渣的主要物相不同。在闪速熔炼炉渣样品和闪速吹炼炉渣样品中加入一定量的Al_2O_3,Rietveld全谱图拟合法分析出样品中Al_2O_3的质量分数与实际值一致,可见上述物相定量分析结果是准确的。研究结果能为闪速熔炼炉渣和闪速吹炼炉渣的回收利用提供基础数据。 展开更多
关键词 铜冶炼炉渣 X射线衍射 rietveld全谱图 物相定量分析
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X射线全谱图拟合定量相分析铁矿石 被引量:7
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作者 曾令民 汪万林 陆美文 《广西科学院学报》 2010年第3期291-294,共4页
应用X射线粉末衍射技术和Rietveld全谱图拟合法分析铁矿石中所含的物相及其含量。该铁矿石主要由Fe2O3,FeOOH,SiO2,Al2(Si2O5)(OH)44种矿物组成,它们的含量分别为86.20%,9.59%,3.58%,0.64%。精修得到铁矿石各物相结构参数与已报道的数... 应用X射线粉末衍射技术和Rietveld全谱图拟合法分析铁矿石中所含的物相及其含量。该铁矿石主要由Fe2O3,FeOOH,SiO2,Al2(Si2O5)(OH)44种矿物组成,它们的含量分别为86.20%,9.59%,3.58%,0.64%。精修得到铁矿石各物相结构参数与已报道的数据相当接近,所测试样中铁的百分含量与化学分析法所得结果非常接近。该方法定量相分析铁矿石所获得的结果是可靠的。 展开更多
关键词 X射线衍射 rietveld全谱图拟合法 定量分析 铁矿石
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X射线衍射里特沃尔德全谱图拟合法与焦磷酸法测定锡冶炼粉尘中游离二氧化硅水平比较 被引量:7
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作者 李小萍 麦志丹 +3 位作者 梁德新 葛宪民 王力珩 曾令民 《中国职业医学》 CAS 北大核心 2013年第1期45-46,共2页
目的探讨X射线衍射里特沃尔德(Rietveld)全谱图拟合法和焦磷酸法测定锡冶炼粉尘中游离二氧化硅(SiO2)水平的差异。方法应用X射线衍射Rietveld全谱图拟合法和焦磷酸法测定同一锡冶炼粉尘中游离SiO2水平,采用配对t检验对2种方法的检测结... 目的探讨X射线衍射里特沃尔德(Rietveld)全谱图拟合法和焦磷酸法测定锡冶炼粉尘中游离二氧化硅(SiO2)水平的差异。方法应用X射线衍射Rietveld全谱图拟合法和焦磷酸法测定同一锡冶炼粉尘中游离SiO2水平,采用配对t检验对2种方法的检测结果进行比较分析。结果焦磷酸法的重现性测定相对标准偏差大于X射线衍射Rietveld全谱图拟合法;焦磷酸法测得的粉尘中游离SiO2水平高于X射线衍射Rietveld全谱图拟合法的测定结果(P<0.05)。结论焦磷酸法在测定含有较多难溶物质的锡冶炼粉尘中的游离SiO2时,可能会导致结果产生较大偏差,应辅以全谱图拟合法进行分析。 展开更多
关键词 锡冶炼粉尘 焦磷酸法 X射线衍射rietveld全谱图拟合法 游离SiO2
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粉煤灰中玻璃体含量测试方法的研究进展
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作者 程明礼 席明亮 +2 位作者 张明 尉晓光 江显焰 《四川建材》 2024年第8期27-29,共3页
粉煤灰是一种硅铝质材料,具有火山灰活性,而粉煤灰玻璃体是粉煤灰活性的主要来源,其含量是影响粉煤灰活性的主要因素。综述粉煤灰玻璃体结构和玻璃体含量的测试方法,结果表明,粉煤灰玻璃体结构主要为低钙粉煤灰中含较低网络改性剂(CaO+M... 粉煤灰是一种硅铝质材料,具有火山灰活性,而粉煤灰玻璃体是粉煤灰活性的主要来源,其含量是影响粉煤灰活性的主要因素。综述粉煤灰玻璃体结构和玻璃体含量的测试方法,结果表明,粉煤灰玻璃体结构主要为低钙粉煤灰中含较低网络改性剂(CaO+MgO+Na_(2)O+K_(2)O≈8%)的Ⅰ型铝硅酸盐玻璃体,及高钙粉煤灰中含较高网络改性剂(CaO+MgO+Na_(2)O+K_(2)O≈27%)的Ⅱ型铝硅酸钙玻璃体;玻璃体含量的测定方法主要有X射线衍射分析(XRD)结晶度计算法、XRD的Rietveld图谱拟合法、酸溶解法、碱溶解法等。最后对主要的测试方法作比较分析,旨为粉煤灰的资源综合利用提供借鉴和参考。 展开更多
关键词 粉煤灰 玻璃体含量 测试方法 rietveld图谱合法 溶解法
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