应用Rietveld全图谱拟合法进行矿物定量分析

采用Ｒｉｅｔｖｅｌｄ法对一些多组分标准物相及天然矿物混合物进行定量相分析已成现实。对刚玉与石英、刚玉与赤铁矿，刚玉与钛铁矿，刚玉与磁铁矿。刚玉与黑云母，刚玉与沸石，刚玉与发光沸石或刚玉与斜发沸石的二元混合物（这些二元混合物的重量比均为５０：５０）通过数字Ｘ射线粉晶衍射（ＸＲＤ）资料进行分析。

X射线衍射Rietveld全谱图拟合法定量分析(ZnO-Al_2O_3)粉末

应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了由氧化锌(ZnO)和刚玉(α-Al2O3)以不同的Al2O3质量百分比(5%～95%,以5%递增)组成的混合粉末。实验采用德国布鲁克公司D8ADVANCE型X射线衍射仪,CuKα靶,固体探测器,管电压40kV,管电流40mA,步进扫描收集衍射数据,经EVA软件定性分析,TOPAS软件定量分析,结果为:Rp平均等于6.68%,Rwp平均等于9.31%。结果表明用全谱图拟合法测定混合粉末中各相的含量是一种快速准确方便的方法。

X射线衍射里特沃尔德全谱图拟合法测定粉尘中游离的SiO2

应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了粉尘中游离SiO2的含量，并同时得到粉尘样品中其它晶相和非晶相物质的含量。实验采用日本理学D／MAX2500V型X射线衍射仪，CuKα辐射带石墨单色器，管电压44kV，管电流150mA，步进扫描收集衍射数据，经Jade5．0软件定性分析，DBWS9807a软件定量分析，结果为：Rp平均等于11．29％，Rwp平均等于13．74％，Rexpected平均等于4．04％。SiO2在各样品中的含量为15．61％-37．83％；加标回收率为102．6％-119．9％；重现性测定相对标准偏差（RSD）为1．14％。结果表明：用Rietveld全谱图拟合法测定粉尘中游离SiO2的含量是一种快速、准确、方便的方法。

粉煤灰中玻璃体含量测试方法的研究进展

粉煤灰是一种硅铝质材料,具有火山灰活性,而粉煤灰玻璃体是粉煤灰活性的主要来源,其含量是影响粉煤灰活性的主要因素。综述粉煤灰玻璃体结构和玻璃体含量的测试方法,结果表明,粉煤灰玻璃体结构主要为低钙粉煤灰中含较低网络改性剂(CaO+MgO+Na2O+K2O≈8%)的Ⅰ型铝硅酸盐玻璃体,及高钙粉煤灰中含较高网络改性剂(CaO+MgO+Na2O+K2O≈27%)的Ⅱ型铝硅酸钙玻璃体;玻璃体含量的测定方法主要有X射线衍射分析(XRD)结晶度计算法、XRD的Rietveld图谱拟合法、酸溶解法、碱溶解法等。最后对主要的测试方法作比较分析,旨为粉煤灰的资源综合利用提供借鉴和参考。

X射线全谱图拟合定量相分析铁矿石

应用X射线粉末衍射技术和Rietveld全谱图拟合法分析铁矿石中所含的物相及其含量。该铁矿石主要由Fe2O3,FeOOH,SiO2,Al2(Si2O5)(OH)44种矿物组成,它们的含量分别为86.20%,9.59%,3.58%,0.64%。精修得到铁矿石各物相结构参数与已报道的数据相当接近,所测试样中铁的百分含量与化学分析法所得结果非常接近。该方法定量相分析铁矿石所获得的结果是可靠的。

X射线衍射里特沃尔德全谱图拟合法与焦磷酸法测定锡冶炼粉尘中游离二氧化硅水平比较

目的探讨X射线衍射里特沃尔德(Rietveld)全谱图拟合法和焦磷酸法测定锡冶炼粉尘中游离二氧化硅(SiO2)水平的差异。方法应用X射线衍射Rietveld全谱图拟合法和焦磷酸法测定同一锡冶炼粉尘中游离SiO2水平,采用配对t检验对2种方法的检测结果进行比较分析。结果焦磷酸法的重现性测定相对标准偏差大于X射线衍射Rietveld全谱图拟合法;焦磷酸法测得的粉尘中游离SiO2水平高于X射线衍射Rietveld全谱图拟合法的测定结果(P<0.05)。结论焦磷酸法在测定含有较多难溶物质的锡冶炼粉尘中的游离SiO2时,可能会导致结果产生较大偏差,应辅以全谱图拟合法进行分析。