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烧结过程中毛细作用对钌基厚膜应变电阻的影响(英文)
被引量:
1
1
作者
丁鹏
马以武
《电子器件》
CAS
2004年第1期66-68,共3页
通过应用毛细作用的的基本公式得到钉基厚膜应变电阻烧结阶段的模型。用Bi_2O_3和RuO_2合成Bi_2Ru_2O_7并进行试验,发现方阻随烧结时间和导电相粒径的增大而增大。用该模型解释了该现象,同时解释了导电相不同的体系,应尽导电相含量一样...
通过应用毛细作用的的基本公式得到钉基厚膜应变电阻烧结阶段的模型。用Bi_2O_3和RuO_2合成Bi_2Ru_2O_7并进行试验,发现方阻随烧结时间和导电相粒径的增大而增大。用该模型解释了该现象,同时解释了导电相不同的体系,应尽导电相含量一样,但方阻不同,以及方阻随玻璃粘度增大而减小。
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关键词
ru基厚膜应变电阻
毛细作用
方阻
下载PDF
职称材料
题名
烧结过程中毛细作用对钌基厚膜应变电阻的影响(英文)
被引量:
1
1
作者
丁鹏
马以武
机构
中国科学院合肥智能机械研究所
出处
《电子器件》
CAS
2004年第1期66-68,共3页
基金
The project is supported by NSFC, granted (No 60175027
60374050)
文摘
通过应用毛细作用的的基本公式得到钉基厚膜应变电阻烧结阶段的模型。用Bi_2O_3和RuO_2合成Bi_2Ru_2O_7并进行试验,发现方阻随烧结时间和导电相粒径的增大而增大。用该模型解释了该现象,同时解释了导电相不同的体系,应尽导电相含量一样,但方阻不同,以及方阻随玻璃粘度增大而减小。
关键词
ru基厚膜应变电阻
毛细作用
方阻
Keywords
ru
-based thick film strain resistors
capillarity
sheet resistance
分类号
TN605 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
烧结过程中毛细作用对钌基厚膜应变电阻的影响(英文)
丁鹏
马以武
《电子器件》
CAS
2004
1
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