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基于阳极弱反型层消除负阻效应的新型SOI LIGBT
1
作者
周骏
成建兵
+3 位作者
袁晴雯
陈珊珊
吴宇芳
王勃
《微电子学》
CSCD
北大核心
2017年第5期714-717,共4页
在SOI衬底上,制作了一种基于阳极弱反型层消除负阻效应的新型横向绝缘栅双极晶体管(SOI AWIL-LIGBT)。利用反型所形成的高阻值电阻来使PN结阳极快速导通,阳极P+区中的空穴可以更快地注入漂移区,从而消除负阻效应。仿真结果表明,该新型LT...
在SOI衬底上,制作了一种基于阳极弱反型层消除负阻效应的新型横向绝缘栅双极晶体管(SOI AWIL-LIGBT)。利用反型所形成的高阻值电阻来使PN结阳极快速导通,阳极P+区中的空穴可以更快地注入漂移区,从而消除负阻效应。仿真结果表明,该新型LTGBT在保证关断速度不变的情况下,击穿电压为307V(漂移区长度为18μm)比,比常规SA-LIGBT提升了56%,并消除了负阻效应。
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关键词
阳极短路横向绝缘栅双极晶体管
击穿电压
反型层
负微分电阻效应
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职称材料
题名
基于阳极弱反型层消除负阻效应的新型SOI LIGBT
1
作者
周骏
成建兵
袁晴雯
陈珊珊
吴宇芳
王勃
机构
南京邮电大学电子科学与工程学院射频集成与微组装技术国家地方联合工程实验室
出处
《微电子学》
CSCD
北大核心
2017年第5期714-717,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(61274080)
文摘
在SOI衬底上,制作了一种基于阳极弱反型层消除负阻效应的新型横向绝缘栅双极晶体管(SOI AWIL-LIGBT)。利用反型所形成的高阻值电阻来使PN结阳极快速导通,阳极P+区中的空穴可以更快地注入漂移区,从而消除负阻效应。仿真结果表明,该新型LTGBT在保证关断速度不变的情况下,击穿电压为307V(漂移区长度为18μm)比,比常规SA-LIGBT提升了56%,并消除了负阻效应。
关键词
阳极短路横向绝缘栅双极晶体管
击穿电压
反型层
负微分电阻效应
Keywords
sa ligbt
Breakdown voltage
Inversion layer
Negative differential resistance effect
分类号
TN324.3 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于阳极弱反型层消除负阻效应的新型SOI LIGBT
周骏
成建兵
袁晴雯
陈珊珊
吴宇芳
王勃
《微电子学》
CSCD
北大核心
2017
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