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构造特定应用领域芯片验证环境的方法讨论 被引量：6
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作者 杜慧敏 曾泽沧 +1 位作者 韩俊刚 沈绪榜 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2004年第6期185-189,共5页
由于IC设计复杂度日益增加,用于IC设计功能验证的时间占到整个设计周期的60%～70%.我们认为针对某个领域的产品,开发可配置的验证环境是验证领域的一个方向,本文重点讨论开发特定应用领域芯片的验证环境方法,并介绍了根据该方法,我们开... 由于IC设计复杂度日益增加,用于IC设计功能验证的时间占到整个设计周期的60%～70%.我们认为针对某个领域的产品,开发可配置的验证环境是验证领域的一个方向,本文重点讨论开发特定应用领域芯片的验证环境方法,并介绍了根据该方法,我们开发的一个面向SDH领域系列芯片的验证环境. 展开更多
关键词 功能验证 bfm模型 同步数字系列断言技术
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