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基于SOPC的SDRAM测试技术研究 被引量:2
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作者 林康保 王烈洋 魏爱香 《电子制作》 2014年第24期6-8,共3页
介绍了一种基于可编程片上系统(System on Programmable Chip,SOPC)SDRAM的通用测试方法和测试技术的系统实现。采用Altera的FPGA芯片EP3C40F484I7作为SDRAM的控制器,建立基于SOPC的嵌入式系统,编写对应的控制和测试程序。通过选择时钟... 介绍了一种基于可编程片上系统(System on Programmable Chip,SOPC)SDRAM的通用测试方法和测试技术的系统实现。采用Altera的FPGA芯片EP3C40F484I7作为SDRAM的控制器,建立基于SOPC的嵌入式系统,编写对应的控制和测试程序。通过选择时钟频率和锁相环的相移,使得SDRAM时钟和控制器时钟同步,确保该SDRAM测试技术平台能够系统验证SDRAM芯片的工作状态。 展开更多
关键词 可编程片上系统 sdram测试 现场可编程逻辑器件 嵌入式系统
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