基于SEM IP和部分重配置的SRAM型FPGA单粒子故障注入

SEM IP(Soft Error Mitigation软错误缓解核)是对SRAM FPGA设计进行单粒子故障注入的一种有效方法.然而由于目标设计与SEM IP部分随机布局布线在一块芯片上,导致进行故障注入时很有可能会打翻SEM IP所使用的配置寄存器而导致故障注入停止工作,同时对于目标设计失效率统计不准确.为解决这一问题,基于SEM IP和部分重配置技术开发了一套单粒子故障注入原型系统用于单粒子故障注入实验.该方法将SEM IP和目标设计布局布线到芯片的不同区域,能够只对目标设计所在区域进行故障注入并且不中断目标设计运行,并且在发生不可纠正错误后对目标设计所在区域进行部分重新配置,配置数据更少,用时更短,系统故障的注入效率大大提高,提高对于目标设计软错误失效率估计的准确性.

SRAM型FPGA中SEM IP核的验证与自动注错方法

星载设备长时间工作在空间环境中,宇宙中的带电粒子会造成器件功能异常,产生存储器软错误,严重时会损坏硬件电路。为模拟辐照环境对器件的影响,利用Xilinx公司的软错误缓解(SEM)控制器IP核,搭建了基于Xilinx Kintex-7的验证与测试平台,完成对SEM IP核的功能验证。为提高测试效率,设计了基于上述平台的自动注错方法。经过验证,该方法能够达到预期的帧地址覆盖率。实验结果表明,SEM IP核具备软错误注入与缓解功能,自动注错方法有利于此IP核的实际应用。

柿竹园难选钨矿物工艺矿物学研究

针对柿竹园选矿厂钨回收率欠佳的问题,用图象与扫描电镜联机鉴定疑难矿物的高新技术,发现一种白钨矿交代黑钨矿形成的半假象白钨矿及其具有的特殊性质:表层元素比白钨矿或黑钨矿复杂,且不稳定,会随磨矿细度变化而变化;易过粉碎,在尾矿中所见到的100％<5um;在现生产流程中主要富集于黑钨摇床尾矿和白钨扫选尾矿内。除尾矿中含大量-10um单体白钨矿和单体黑钨矿外,半假象白钨矿系导致大量钨损失的另一个主要原因。