组合电路SET传播特性与软错误率分析

通过研究单粒子瞬态(Single Event Transient,SET)在逻辑链路中的传输,表明输入脉冲宽度对脉冲在传输过程中的展宽和衰减有重要影响.在辐照环境下,采用SET的传输模型和软错误率的分析模型评估软错误率.基于这两种模型,从门级角度对组合电路的软错误率分析进行了改善,使得软错误率评估方法得到改进.由于电气掩蔽效应对软错误分析具有重要的影响,在运用SET传输模型中考虑了电气掩蔽特性.