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SI诊断算法
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作者 王景梁 刘晓 张耀升 《微电子学与计算机》 EI CSCD 北大核心 1998年第6期41-43,共3页
本文针对PMC模型最佳设计Dδt设计的系统级诊断提出一种诊断算法,命名为SI诊断算法,该算法充分利用了Dδ.t设计系统图是t次正则图的特点,计算复杂性为O(n2)。
关键词 电气自动化 si诊断算法 PMC
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