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54cm后工程SK的产生原因及对策
1
作者
罗卫兵
《显示器件技术》
2003年第1期24-27,共4页
本文叙述了54cm彩管生产中全线SK产生的主要原因及对策方法。
关键词
sk不良
封口形状
欠熔
过熔
芯柱
彩色显像管
下载PDF
职称材料
题名
54cm后工程SK的产生原因及对策
1
作者
罗卫兵
机构
彩虹集团显示器件股份有限公司
出处
《显示器件技术》
2003年第1期24-27,共4页
文摘
本文叙述了54cm彩管生产中全线SK产生的主要原因及对策方法。
关键词
sk不良
封口形状
欠熔
过熔
芯柱
彩色显像管
分类号
TN141.32 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
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1
54cm后工程SK的产生原因及对策
罗卫兵
《显示器件技术》
2003
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