SM1021C型二极管自动测试仪V_R测试重复性差的故障分析

本文对进口SM1021C型自动测试仪V_R测试重复性差的故障进行了分析,并提出改进措施,实施后故障消失。对测试非线性半导体器件时,出现类似V_R测试重复性差的故障进行了总结,并提出解决办法。