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题名基于LabVIEW的集成电路测试分析仪
被引量:8
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作者
王帅
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机构
湖南怀化学院物理与信息工程系
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出处
《现代电子技术》
2011年第18期158-160,164,共4页
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文摘
为满足高校实验室对数字集成芯片的测试需求,利用LabVIEW软件和单片机技术,设计实现了集成电路测试分析仪。与常见的集成电路测试仪相比,系统的特色在于依托LabVIEW强大的数据分析和图形显示功能,不仅能完成常规74系列芯片的功能测试,还提供了任意输入数据编辑和波形显示功能,有利于初学者准确掌握和深入理解芯片的逻辑功能。设计中利用SN754410设计了管脚上电电路,使用USB/串口转换电路实现上位机与控制器间通信。实验表明,系统功能测试正确,运行稳定,波形图显示直观便捷,为芯片测试和数字逻辑验证提供了有力工具。
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关键词
集成电路测试
LABVIEW
sn754410
USB/串口转换电路
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Keywords
IC testing
LabView
sn754410
USB/serial port conversion circuit
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分类号
TP273
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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