基于CTL的SOC IP核的测试技术

本文介绍了一种针对SOC测试设计中嵌入式芯核的核测试语言(CTL)。该语言描述了如何将可测试性设计置入具有知识产权 (Intellectual Property,简称 IP)芯核和SOC中,从而加速测试生成和复用。CTL语言标准虽然还未被IEEE正式通过,但已经在EDA厂商、ATE厂商和 IP芯核提供者之间悄然兴起并被积极采用,一系列基于 CTL的产品也相继被研制出来。本文通过对CTL的分析与研究,较为详细地说明了 CTL引入的重要性及其特性,并为 SOC IP芯核提供CTL语言测试设计实例。