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SOI热光开关调制区结构与速度和功耗关系的有限元法分析
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作者 刘敬伟 王小龙 +1 位作者 陈少武 余金中 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第10期1324-1330,共7页
利用有限元法分析了调制区内二维温度场的静态和动态分布 .结果表明 ,上包层 Si O2 厚度的减小 ,有利于开关速度的提高和功耗的减小 .增加埋层 Si O2 的厚度或引入绝缘槽 ,能有效降低器件功耗 ,但开关时间随之增加 .电极的尺寸对开关性... 利用有限元法分析了调制区内二维温度场的静态和动态分布 .结果表明 ,上包层 Si O2 厚度的减小 ,有利于开关速度的提高和功耗的减小 .增加埋层 Si O2 的厚度或引入绝缘槽 ,能有效降低器件功耗 ,但开关时间随之增加 .电极的尺寸对开关性能影响较小 .如果采用全体硅材料制作光开关 ,开关速度能达到 5 μs,但功耗将增至 0 .92 W. 展开更多
关键词 有限元法 soi热光开关 开关速度 功耗
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