宽带在片SOLT校准件研制及表征

针对在片S参数校准,设计制作GaAs衬底SOLT校准组件,通过计算方法对校准组件中直通、开路、短路和负载校准件中偏置传输线的时延和损耗进行定义,运用基于NIST muiline TRL校准的测量方法对校准组件中开路校准件电容和短路校准件电感参数进行提取,结合直流电阻测试法测试负载阻值大小,实现对SOLT校准组件的完整表征。最后用自行研制并表征的SOLT校准组件校准在片S参数测试系统,通过测量无源器件验证校准效果,将测量结果与NIST multilineTRL校准后的测量结果比较,在20 GHz内传输幅度最大偏差0.1 dB,传输相位最大偏差3.5°。

一种用于在片器件直接测量的新型SOLT校准方法

介绍了一种“针尖前移”的在片SOLT校准方法,使用这种校准方法可以将测试参考面直接校准到内部被测件,从而可以进行无去内嵌(De-embedding)操作的直接测量。通过对在片平面螺旋电感的测试验证,证明这是一种精确高效的新校准方法。

一种L~Ka波段可调MEMS SOLT校准件的设计

针对矢量网络分析仪(VNA)及其测试连接系统校准的宽频带、低功耗、易操作的需求,设计了一款适用于L~Ka波段的可调微机电系统(MEMS)SOLT校准件.该结构校准件以串联、并联式MEMS开关为基础,首先设计出一款串并联混合式MEMS开关,并将负载电阻与MEMS开关进行集成,结合校准件的SOLT原理,利用该开关对信号的选通功能实现短路、开路、负载和直通4种校准状态.该结构的校准件弥补了传统校准件操作复杂、人为误差较大的不足,具有体积小、精度高、易于操作的特点.利用HFSS仿真软件对器件性能进行优化仿真,在L~Ka波段范围内,器件在直通、开路及短路状态下的损耗分别优于1.89 dB,1.8 dB及0.33 dB,阻抗稳定在50.5Ω.

网络分析仪不同校准面自校准影响分析

网络分析仪(VNA)端口的延伸线具有一定的衰减量,使网络分析仪的动态范围降低,影响测量结果的准确性。该文理论分析带有延伸线的网络分析仪SOLT校准算法,将剩余误差的理论应用于不确定度计算,从而得到延伸线对网络分析仪不同校准面自校准影响的分析。研究结果表明:当网络分析仪端口延伸线的衰减量<15 d B时,反射参数<0.07,传输参数测量不确定度<0.2 d B,对测量结果影响较小;当延伸线衰减量>20 d B时测量结果不确定度急剧增大。因此,在实际测量过程中,为减小延伸线对测量结果的影响,应保证延伸线的衰减量<15 d B。

矢量网络分析仪E8362B的误差来源及其校准

文章主要介绍了矢量网络分析仪误差来源和校准的概念，详细讨论了全SOLT双端口校准方法。在实际工作中利用性能稳定可靠的校准件，对测量系统误差进行修正，使测量准确度得到很大提高。校准是消除测量系统原始误差以达到精确测量的有效手段。

双端口天线测试机系统方案设计

文章提出了一种双端口天线测试机的实现方案,介绍了方案的系统框图和测试流程,通过引入成熟的12参数的SOLT校准方案,分析了测试系统的校准方式。该方案降低了测试成本,可以很好地保证测量的一致性和结果的可靠性。