由表面光生电压实验确定α-Si:H中费米能级附近的隙态密度

采用表面光生电压(简称SPV)方法来确定非晶硅材料中少数载流子扩散长度已有多年。在SPV实验中,首先要在待测样品表面上建立表面势垒,这可从样品表面天然的带电氧化层获得或人工在样品表面上沉积一层半透明金属膜或滴上一滴离子性氧化-还原剂得到。接近吸收边的入射光,在非晶硅中产生的电子-空穴对扩散进势垒区后。