期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到2篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
差分SPV法测量a-Si:H材料少子扩散长度的数学模型
1
作者 张治国 宿昌厚 《电子科学学刊》 CSCD 1993年第5期487-492,共6页
用差分SPV法测量a-Si:H材料的少子扩散长度,可以消除被测样品背面结的影响.本文讨论了这种测量方法的数学模型,导出了测量公式,分析了影响测量结果的各种因素.
关键词 spv测量 扩散长度 非晶硅材料 模型
下载PDF
差分SPV方法
2
作者 白毅彬 《云南师范大学学报（自然科学版）》 1990年第Z2期63-67,共5页
本文对一种新的测量半导体薄膜少子扩散长度的方法进行剖析并提出一种判断薄膜器件两表面处势垒区中电场相对方向的方法。
关键词 差分 spv测量
下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部