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边界扫描SRAM簇板级互连测试研究
被引量:
1
1
作者
李桂祥
刘明云
+1 位作者
杨江平
项建涛
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第3期61-66,共6页
由于边界扫描结构的复杂与费用的关系,在现代电子电路中广泛使用的静态随机存取存储器还很少包含边界扫描结构。本文提出了一种能完全实现SRAM簇互连测试的方法,该方法能检测SRAM簇控制线、数据线和地址线的板级互连故障,且测试长度较短。
关键词
边界扫描
sram簇
板级互连
静态随机存取存储器
测试
下载PDF
职称材料
题名
边界扫描SRAM簇板级互连测试研究
被引量:
1
1
作者
李桂祥
刘明云
杨江平
项建涛
机构
空军雷达学院雷达系统工程系
空军雷达学院研究生队
华中科技大学电子与信息工程系
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第3期61-66,共6页
文摘
由于边界扫描结构的复杂与费用的关系,在现代电子电路中广泛使用的静态随机存取存储器还很少包含边界扫描结构。本文提出了一种能完全实现SRAM簇互连测试的方法,该方法能检测SRAM簇控制线、数据线和地址线的板级互连故障,且测试长度较短。
关键词
边界扫描
sram簇
板级互连
静态随机存取存储器
测试
Keywords
boundary scan
sram
cluster
interconnect
testing
分类号
TN304.07 [电子电信—物理电子学]
TP333.8 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
边界扫描SRAM簇板级互连测试研究
李桂祥
刘明云
杨江平
项建涛
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004
1
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