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质子辐射对铌酸锂多功能集成光路器件的影响
1
作者
郑德晟
胡红坤
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第3期343-347,共5页
利用模拟软件SRIM2008计算了质子辐射对铌酸锂多功能集成光路器件(MIOC)的影响,结合质子辐射效应地面模拟试验的结果,分析比较了不同的质子辐射能量和注量对多功能集成光路器件的影响,给出了多功能集成光路器件质子辐射试验的数据和分析...
利用模拟软件SRIM2008计算了质子辐射对铌酸锂多功能集成光路器件(MIOC)的影响,结合质子辐射效应地面模拟试验的结果,分析比较了不同的质子辐射能量和注量对多功能集成光路器件的影响,给出了多功能集成光路器件质子辐射试验的数据和分析,讨论了多功能集成光路器件抗质子辐射的能力。
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关键词
铌酸锂
多功能集成光路器件
质子辐射
srim2008
下载PDF
职称材料
题名
质子辐射对铌酸锂多功能集成光路器件的影响
1
作者
郑德晟
胡红坤
机构
重庆光电技术研究所
出处
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第3期343-347,共5页
文摘
利用模拟软件SRIM2008计算了质子辐射对铌酸锂多功能集成光路器件(MIOC)的影响,结合质子辐射效应地面模拟试验的结果,分析比较了不同的质子辐射能量和注量对多功能集成光路器件的影响,给出了多功能集成光路器件质子辐射试验的数据和分析,讨论了多功能集成光路器件抗质子辐射的能力。
关键词
铌酸锂
多功能集成光路器件
质子辐射
srim2008
Keywords
LiNbO3
MIOC
protons radiation
srim2008
分类号
TN256 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
质子辐射对铌酸锂多功能集成光路器件的影响
郑德晟
胡红坤
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
2011
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