基于GaAs STATZ模型的RF MOSFET DC建模技术

STATZ模型是表征GaAsMESFET特性的常用模型,具有表达式简洁、参数少的优点。通过尝试将STATZ模型用于表征射频MOSFET的直流特性,提取并在ADS软件中优化了STATZ直流模型的参数。为了提高仿真精度,模型必须考虑晶体管漏极与源极的寄生电阻,根据MOSFET处于强反型区且漏-源电压为零时的等效电路模型提取了晶体管的漏极和源极的寄生电阻。在ADS软件中利用STATZ模型对MOSFET的直流特性进行了仿真,测量的MOSFET直流曲线与仿真曲线一致性很好,验证了模型的良好的精确度,证明了GaAs STATZ模型可以用于表征射频MOSFET的直流特性。晶体管采用中芯国际的0.13μm RF CMOS工艺制作。

基于Statz模型的射频MOSFET非线性电容建模

研究了Statz模型对于表征射频(RF)金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)器件特性的适用情况,并提出了一个MOSFET非线性电容改进模型。对英飞凌公司生产的规格为4×0.6μm×18(栅指数×栅宽×元胞数)、栅长为90 nm的MOSFET进行S参数实验测量。经过去嵌剥离所有寄生元件后,在多个偏置条件下分别使用小信号等效电路模型提取出MOSFET非线性栅源电容C_(gs)和栅漏电容C_(gd)的数据;对比了传统Statz模型以及改进模型的仿真结果与实验测量数据的相对误差。仿真结果和误差分析表明改进模型与实验测量数据吻合很好,在大部分工作范围内误差控制在5%以下,证明改进模型适用于表征MOSFET的非线性电容特性。