基于STM32F103VF测试某型导弹发控设备的测试精度与参数设计

为实现装备保障快速检测、修理与维护,基于对STM32F103VF系列微控制器的研究,开发新型采集测试系统。文章主要对测试通道设计和精度需求进行分析,并应用于测试某型便携导弹发控设备,满足对装备实测要求,降低了电源的要求,大大缩小测试电路的尺寸,对测试设备实现了极大的小型化和便携化[1],同时满足战场快速技术保障的战斗力要求。