微电子器件测试技术(上)

本文分析了微电子器件的发展趋势,论述了微电子器件的测试筛选与质量控制的关系。重点结合了华峰测控的STS2100系列测试系统介绍了各种微电子器件的相关测试技术,同时也介绍了测试失效分析及其重要性。

STS 2100系列电子元器件测试系统

STS 2100系统是北京华峰测控技术公司自行研制开发的系列化电子元器件测试系统,本文介绍了该系统的特点,并对测试系统如何适合我国国情的问题提出了看法。

STS 2100系列电子元器件测试系统——中小型电子元器件测试系统的发展探讨

中小型电子元器件测试系统在我国经历了引进、仿制发展到消化国外产品独立研制的过程。本文结合STS 2100系列产品探讨了测试系统的系统构成、硬件结构和软件系统的形式及特点,并对测试系统如何适合我国的国情提出了看法。

STS 2100系列电子元器件测试系统

STS 2100系统是北京华峰测控技术公司自行研制开发的系列化电子元器件测试系统,本文结合该系统的总体设计思想,分析、比较探讨了各类小型智能化电子元器件测试系统的特点,并对测试系统如何适合我国国情的问题提出了看法。