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微电子工艺CAD系统SUPREM-Ⅱ的模拟精度 被引量:2
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作者 李惠军 刘晓建 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1994年第6期34-36,41,共4页
模拟精度是CAD系统设计者首先考虑的问题。文中向读者提供了在SUPREM-Ⅱ模拟系统中,提高模拟精度的较科学的实验方法。
关键词 CAD suprem-ⅱ 模拟精度 微电子工艺
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微电子工艺CAD系统SUPREM-Ⅱ所提供的信息量
2
作者 李惠军 陈勇 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1995年第2期29-32,共4页
结合作者在半导体工艺CAD领域的部分工作,介绍了SUPREM-Ⅱ工艺模拟系统在单管(场效应器件)和双极型电路(运算放大器)工艺模拟中能够提供给研究人员的数据信息量。从单项命题及全工艺模拟的视角加以阐述。
关键词 CAD suprem-ⅱ 微电子工艺 场效应器件 模拟
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集成电路全工序模拟程序SUPREM—Ⅱ实用化研究
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作者 阮刚 徐向东 《上海半导体》 1989年第2期12-25,共14页
关键词 集成电路 工艺模拟 suprem-ⅱ
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