由于图像复杂背景信息的干扰,一般检测算法的应用受到了限制,致使异常检测的虚警率较高,而基于支持向量数据描述(Support Vector Data Description,SVDD)的异常检测算法不需要对背景或者目标数据作任何分布假设,可将原始数据映射到高维...由于图像复杂背景信息的干扰,一般检测算法的应用受到了限制,致使异常检测的虚警率较高,而基于支持向量数据描述(Support Vector Data Description,SVDD)的异常检测算法不需要对背景或者目标数据作任何分布假设,可将原始数据映射到高维特征空间进行异常检测。基于此,本文提出了一种基于非下采样Contourlet变换的异常检测SVDD算法。算法首先对高光谱数据进行NSCT(Nonsubsampled Contourlet Transform)分解,得到高频信息图像和低频信息图像;然后对低频信息作差,得到背景残差数据,抑制了背景信息;接着通过加权融合得到背景抑制后的高光谱图像,最后利用非线性SVDD将背景抑制后的高光谱图像映射到高维特征空间,完成异常目标的检测。通过仿真实验验证可知,所提出的算法与RX算法、KRX算法和未进行背景抑制的SVDD算法相比,具有较低的异常检测虚警率和优良的检测性能。展开更多
文章针对生产过程中质量数据分布类型未知引起的传统质量控制图异常检测精度低的问题,提出结合支持向量数据描述(support vector data description,SVDD)和密度峰值聚类(density peaks clustering,DPC)的制造过程异常检测方法。采用DPC...文章针对生产过程中质量数据分布类型未知引起的传统质量控制图异常检测精度低的问题,提出结合支持向量数据描述(support vector data description,SVDD)和密度峰值聚类(density peaks clustering,DPC)的制造过程异常检测方法。采用DPC算法对质量特征数据进行聚类分析,将聚类结果作为模型输入训练得到各类超球体中心和决策边界;以此建立基于内核距离的DPC控制图,实现对生产过程质量波动的实时监控;最后将该控制图应用到再制造曲轴生产过程监控中。结果表明,该文提出的DPC控制图可以有效监测再制造曲轴生产过程质量异常波动,验证了该检测方法的可行性和有效性。展开更多
文摘文章针对生产过程中质量数据分布类型未知引起的传统质量控制图异常检测精度低的问题,提出结合支持向量数据描述(support vector data description,SVDD)和密度峰值聚类(density peaks clustering,DPC)的制造过程异常检测方法。采用DPC算法对质量特征数据进行聚类分析,将聚类结果作为模型输入训练得到各类超球体中心和决策边界;以此建立基于内核距离的DPC控制图,实现对生产过程质量波动的实时监控;最后将该控制图应用到再制造曲轴生产过程监控中。结果表明,该文提出的DPC控制图可以有效监测再制造曲轴生产过程质量异常波动,验证了该检测方法的可行性和有效性。