基于SVIC编码的SOC测试数据压缩

本文针对SOC测试数据压缩,提出了一种新的可挑选变长输入编码(SVIC)方案。先采用一启发式的贪婪算法, 得到带有无关位测试集TD的差分矢量序列Tdiff后,再用该SVIC编码对其进行压缩,以缩短测试时间,降低测试数据带宽的要求。文中同时给出了相应SVIC解码器的设计。实验结果表明,在硬件开销接近时,SVIC的压缩比可比SC编码平均高出约 17.46%;而与VIHC编码相比,虽然其压缩比略有下降,但SVIC解码器所要求的面积开销却可显著降低。