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Influence of Thermal Treatments on In-depth Compositional Uniformity of Culn(S,Se)2 Thin Films
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作者 谢海兵 刘伟丰 +3 位作者 江国顺 李欣益 严飞 朱长飞 《Chinese Journal of Chemical Physics》 SCIE CAS CSCD 2012年第4期481-486,I0004,共7页
CuIn(S,Se)2 thin films were prepared by thermal crystallization of co-sputtered Cu-In alloy precursors in S/Se atmosphere. In-depth compositional uniformity is an important prereq- uisite for obtaining device-qualit... CuIn(S,Se)2 thin films were prepared by thermal crystallization of co-sputtered Cu-In alloy precursors in S/Se atmosphere. In-depth compositional uniformity is an important prereq- uisite for obtaining device-quality CuIn(S,Se)2 absorber thin films. In order to figure out the influence of heat treatments on in-depth composition uniformity of CuIn(S,Se)2 thin films, two kinds of reaction temperature profiles were investigated. One process is "one step profile", referring to formation of CuIn(S,Se)2 thin films just at elevated temperature (e.g. 500 ℃). The other is "two step profile", which allows for slow diffusion of S and Se elements into the alloy precursors at a low temperature before the formation and re-crystallization of CuIn(S,Se)2 thin films at higher temperature (e.g. first 250 ℃ then 500 ℃). X-ray diffrac- tion studies reveal that there is a discrepancy in the shape of (112) peak. Samples annealed with "one step profile" have splits on (112) peaks, while samples annealed with "two step profile" have relatively symmetrical (112) peaks. Grazing incident X-ray diffraction and en- ergy dispersive spectrum measurements of samples successively etched in bromine methanol show that CuIn(S,Se)2 thin films have better in-depth composition uniformity after "two step profile" annealing. The reaction mechanism during the two thermal processing was also investigated by X-ray diffraction and Raman spectra. 展开更多
关键词 Thermal treatment In-depth compositional uniformity CuIn(S se)2 thin film
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First-principles study on the alkali chalcogenide secondary compounds in Cu(In,Ga)Se_2 and Cu_2ZnSn(S,Se)_4 thin film solar cells 被引量:1
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作者 Xian Zhang Dan Han +2 位作者 Shiyou Chen Chungang Duan Junhao Chu 《Journal of Energy Chemistry》 SCIE EI CAS CSCD 2018年第4期1140-1150,共11页
The beneficial effect of the alkali metals such as Na and K on the Cu(In.Ga)Se2 (CIGS) and Cu2ZnSn(S,Se)4 (CZTSSe) solar cells has been extensively investigated in the past two decades, however, in most of the... The beneficial effect of the alkali metals such as Na and K on the Cu(In.Ga)Se2 (CIGS) and Cu2ZnSn(S,Se)4 (CZTSSe) solar cells has been extensively investigated in the past two decades, however, in most of the studies the alkali metals were treated as dopants. Several recent studies have showed that the alkali metals may not only act as dopants but also form secondary phases in the absorber layer or on the surfaces of the films. Using the first-principles calculations, we screened out the most probable secondary phases of Na and K in CIGS and CZTSSe, and studied their electronic structures and optical properties. We found that all these alkali chalcogenide compounds have larger band gaps and lower VBM levels than CIGS and CZTSSe, because the existence of strong p-d coupling in CIS and CZTS pushes the valence band maximum (VBM) level up and reduces the band-gaps, while there is no such p-d coupling in these alkali chalcogenides. This band alignment repels the photo-generated holes from the secondary phases and prevents the electron-hole recombination. Moreover, the study on the optical properties of the secondary phases showed that the absorption coefficients of these alkali chalcogenides are much lower than those of CIGS and CZTSSe in the energy range of 0-3.4eV, which means that the alkali chalcogenides may not influence the absorption of solar light. Since the alkali metal dopants can passivate the grain boundaries and increase the hole carrier concentration, and meanwhile their related secondary phases have innocuous effect on the optical absorption and band alignment, we can understand why the alkali metal dopants can improve the CIGS and CZTSSe solar cell performance. 展开更多
关键词 Cu(In Ga)se2 and Cu2ZnSn(S se)4 thin film solar cells First-principles calculations secondary phases Alkali dopants
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A Novel Semiconductor CIGS Photovoltaic Material and Thin-Film ED Technology 被引量:10
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作者 ZHENG Guang fu 1,YANG Hong xing 1,MAN Cheuk ho 1,WONG Wing lok 2, AN Da wei 1 and John BURNETT 1(1 Centre for Development of Solar Energy Technology,Department of Building Services Engineering, The Hong Kong Polytechnic University,Hong Kong,C 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第11期1357-1363,共7页
In order to achieve low cost high efficiency thin film solar cells,a novel Semiconductor Photovoltaic (PV) active material CuIn 1-x Ga x Se 2 (CIGS) and thin film Electro Deposition (ED) technology is explored.Firstly... In order to achieve low cost high efficiency thin film solar cells,a novel Semiconductor Photovoltaic (PV) active material CuIn 1-x Ga x Se 2 (CIGS) and thin film Electro Deposition (ED) technology is explored.Firstly,the PV materials and technologies is investigated,then the detailed experimental processes of CIGS/Mo/glass structure by using the novel ED technology and the results are reported.These results shows that high quality CIGS polycrystalline thin films can be obtained by the ED method,in which the polycrystalline CIGS is definitely identified by the (112),(204,220) characteristic peaks of the tetragonal structure,the continuous CIGS thin film layers with particle average size of about 2μm of length and around 1 6μm of thickness.The thickness and solar grade quality of CIGS thin films can be produced with good repeatability.Discussion and analysis on the ED technique,CIGS energy band and sodium (Na) impurity properties,were also performed.The alloy CIGS exhibits not only increasing band gap with increasing x ,but also a change in material properties that is relevant to the device operation.The beneficial impurity Na originating from the low cost soda lime glass substrate becomes one prerequisite for high quality CIGS films.These novel material and technology are very useful for low cost high efficiency thin film solar cells and other devices. 展开更多
关键词 半导体光电材料 薄膜 ED技术
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Investigation of post-thermal annealing on material properties of Cu-In-Zn-Se thin films
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作者 H.H.Güllü M.Parlak 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2017年第12期26-31,共6页
The Cu-In-Zn-Se thin film was synthesized by changing the contribution of In in chalcopyrite CulnSe2 with Zn. The XRD spectra of the films showed the characteristic diffraction peaks in a good agreement with the quate... The Cu-In-Zn-Se thin film was synthesized by changing the contribution of In in chalcopyrite CulnSe2 with Zn. The XRD spectra of the films showed the characteristic diffraction peaks in a good agreement with the quaternary Cu-In-Zn-Se compound. They were in the polycrystalline nature without any post-thermal process, and the main orientation was found to be in the (112) direction with tetragonal crystalline structure. With increasing annealing temperature, the peak intensities in preferred orientation became more pronounced and grain sizes were in increasing behavior from 6.0 to 25.0 nm. The samples had almost the same atomic composition of Cu0.sIn0.sZnSe2. However, EDS results of the deposited films indicated that there was Se re-evaporation and/or segregation with the annealing in the structure of the film. According to the optical analysis, the transmittance values of the films increased with the annealing temperature. The absorption coefficient of the films was calculated as around 105 cm-1 in the visible region. Moreover, optical band gap values were found to be changing in between 2.12 and 2.28 eV depending on annealing temperature. The temperature-dependent dark- and photo-conductivity measurements were carried out to investigate the electrical characteristics of the films. 展开更多
关键词 ANNEALING Cu-In-Zn-se thin film
原文传递
Impurity Effects at Surfaces of a Photon-Dressed Bi2Se3 Thin Film
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作者 Qiu-Shi Wang Bin Zhang +3 位作者 Wei-Zhu Yi Meng-Nan Chen Baigeng Wang R.Shen 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2018年第10期72-76,共5页
We investigate the impurity effects on surfaces of a thin film topological insulator, applied by an off-resonant circular polarized light. It is found that the off-resonant driving induces a quantized total Hall condu... We investigate the impurity effects on surfaces of a thin film topological insulator, applied by an off-resonant circular polarized light. It is found that the off-resonant driving induces a quantized total Hall conductivity, when the driving strength is larger than a critical value and the Fermi level lies in the band gap, indicating that our system is converted into the topological phase. We also find that with the increasing disorder strength, the Dirac masses of top and bottom surfaces are renormalized and then fixed to half of their initial values, respectively,which will shrink the widths of the half-integer plateau of anomalous Hall conductivities. 展开更多
关键词 Impurity Effects at Surfaces of a Photon-Dressed Bi2se3 thin film BI
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XPS Study of Electroless Deposited Sb2Se3 Thin Films for Solar Cell Absorber Material
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作者 Towhid Adnan Chowdhury 《Energy and Power Engineering》 2023年第11期363-371,共9页
As a thin film solar cell absorber material, antimony selenide (Sb<sub>2</sub>Se<sub>3</sub>) has become a potential candidate recently because of its unique optical and electrical properties a... As a thin film solar cell absorber material, antimony selenide (Sb<sub>2</sub>Se<sub>3</sub>) has become a potential candidate recently because of its unique optical and electrical properties and easy fabrication method. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was used to determine the stoichiometry and composition of electroless Sb<sub>2</sub>Se<sub>3</sub> thin films using depth profile studies. The surface layers were analyzed nearly stoichiometric. But the abundant amount of antimony makes the inner layer electrically more conductive. 展开更多
关键词 Sb2se3 ELECTROLESS Depth Profiling thin film X-Ray Photoelectron Spectroscopy
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ZnS0.8Se0.2 film for high resolution liquid crystal light valve
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作者 沈大可 韩高荣 +2 位作者 杜丕一 阙端麟 SOUI.K 《Journal of Zhejiang University Science》 EI CSCD 2004年第2期212-217,共6页
The structural characteristics and optical and electrical properties of molecular-beam-epitaxy (MBE) grown ZnS0.8Se0.2 thin films on indium-tin-oxide (ITO) glass substrates were investigated in this work. The X-ray di... The structural characteristics and optical and electrical properties of molecular-beam-epitaxy (MBE) grown ZnS0.8Se0.2 thin films on indium-tin-oxide (ITO) glass substrates were investigated in this work. The X-ray diffraction (XRD) results indicated that high quality polycrystalline ZnS0.8Se0.2 thin film grown at the optimized temperature had a preferred orientation along the (111) planes. The transmission electron microscopy (TEM) cross-sectional micrograph of the sample showed a well defined columnar structure with lateral crystal dimension in the order of a few hundred angstroms. Ultraviolet(UV) photoresponsivity as high as 0.01 A/W had been demonstrated and for wavelengths longer than 450 nm, the response was down from the peak response by more than 3 orders of magnitude. The thin ZnS0.8Se0,2 photosensor layer, with a wide energy gap and anisotropic electrical property, makes a transmission UV liquid crystal light valve (LCLV) with high resolution feasible. 展开更多
关键词 UV LCLV Transmission mode Polycrystalline ZnS0.8se0.2 thin film MBE
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管式PECVD工艺对“SE+PERC”晶体硅太阳电池镀膜均匀性的影响及改善研究
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作者 张福庆 张若凡 +2 位作者 王贵梅 胡明强 张鹏程 《太阳能》 2024年第6期41-50,共10页
针对在“SE+PERC”晶体硅太阳电池制备过程中,采用管式等离子体增强化学气相沉积(PECVD)工艺沉积正面钝化介质膜后,硅片正面会出现角部发红色差,即镀膜均匀性异常的问题,通过实验,对硅片厚度、工器具状态、背面膜层结构、正面钝化介质... 针对在“SE+PERC”晶体硅太阳电池制备过程中,采用管式等离子体增强化学气相沉积(PECVD)工艺沉积正面钝化介质膜后,硅片正面会出现角部发红色差,即镀膜均匀性异常的问题,通过实验,对硅片厚度、工器具状态、背面膜层结构、正面钝化介质膜沉积工艺等影响因素对硅片正面角部发红色差的影响分别进行分析和讨论,并提出解决方案。研究结果表明:硅片正面角部发红色差的产生与硅片自身厚度、工器具状态、背面膜层结构、正面钝化介质膜沉积工艺均存在一定关系。通过采用最具优势的管式PECVD工艺条件,即优化自动化装片技术、控制石墨舟形变量、采用合适的背面膜层结构,以及正面钝化介质膜沉积工艺采用高射频功率叠加高腔体压力,可将正面角部发红色差硅片的占比降低至0%,从而可有效提升“SE+PERC”晶体硅太阳电池的成品率,提升生产线的经济效益。 展开更多
关键词 管式等离子体增强化学气相沉积 se+PERC”太阳电池 硅片 沉积工艺 薄膜应力 石墨舟 射频功率 色差
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p型“SE+PERC”双面太阳电池背面工艺对光伏组件PID效应的影响研究
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作者 王玉肖 王贵梅 +2 位作者 赵英芳 程雅琦 许志卫 《太阳能》 2024年第4期80-86,共7页
基于p型“SE+PERC”双面太阳电池的背面工艺,针对背表面抛光状态、背面氧化铝薄膜厚度、背面膜层结构、背面氮化硅薄膜折射率几个因素对光伏组件电势诱导衰减(PID)效应的影响进行了研究。研究结果表明:1)背表面抛光状态越光滑,对应制备... 基于p型“SE+PERC”双面太阳电池的背面工艺,针对背表面抛光状态、背面氧化铝薄膜厚度、背面膜层结构、背面氮化硅薄膜折射率几个因素对光伏组件电势诱导衰减(PID)效应的影响进行了研究。研究结果表明:1)背表面抛光状态越光滑,对应制备的光伏组件在PID测试后的输出功率损失率越小;2)背面氧化铝薄膜厚度为10 nm及以上时对应制备的光伏组件在PID测试后的输出功率损失率差异不大;3)背面膜层结构对PID效应存在影响,合理设计背面膜层结构可以有效抑制光伏组件PID效应;4)背面氮化硅薄膜折射率大于等于2.10时,对应制备的光伏组件在PID测试后的输出功率损失率降至2.00%以内且可以稳定保持在较低水平。研究结果可为p型“SE+PERC”双面太阳电池背面工艺优化提供指导方向。 展开更多
关键词 p型晶体硅 se+PERC 双面太阳电池 电势诱导衰减 背面工艺 抛光 氧化铝薄膜 折射率
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非晶态Se及掺杂Sb的Se薄膜晶化特性研究 被引量:1
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作者 叶水驰 鲍海飞 蓝慕杰 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第1期70-74,共5页
利用光学显微镜和X射线衍射技术,分析了非晶态Se和掺杂Sb的Se薄膜的晶化特性。Se薄膜由于保存周期不同以及Sb掺杂到Se中的Sb含量的多少都会影响Se的晶化特性;在热处理下薄膜的晶化呈现各向异性的择优生长。分析了晶... 利用光学显微镜和X射线衍射技术,分析了非晶态Se和掺杂Sb的Se薄膜的晶化特性。Se薄膜由于保存周期不同以及Sb掺杂到Se中的Sb含量的多少都会影响Se的晶化特性;在热处理下薄膜的晶化呈现各向异性的择优生长。分析了晶化过程中微裂纹的产生,晶界的产生和体积收缩。薄膜与衬底之间的热应力是产生微裂纹的主要因素。 展开更多
关键词 掺杂 晶化 微裂纹 薄膜 非晶态
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Zn-Se/不锈钢薄膜的电沉积及其应用研究 被引量:1
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作者 王秋芬 缪娟 杨娟 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第18期71-74,78,共5页
研究了Zn-Se/不锈钢薄膜的电沉积工艺条件及其在染料废水处理中的应用。讨论了电流密度、初始浓度比(c(ZnSO4):c(Na2SeO3))、pH值、柠檬酸钠加入量、电沉积时间、电沉积温度以及超声功率对镀层的影响。经扫描电镜及能谱仪分析测试表明,... 研究了Zn-Se/不锈钢薄膜的电沉积工艺条件及其在染料废水处理中的应用。讨论了电流密度、初始浓度比(c(ZnSO4):c(Na2SeO3))、pH值、柠檬酸钠加入量、电沉积时间、电沉积温度以及超声功率对镀层的影响。经扫描电镜及能谱仪分析测试表明,在电流密度为3.8mA/cm2、初始浓度比为250:1、pH=2.9、柠檬酸钠加入量为14.71g、电沉积时间为7min、电沉积温度为55℃、超声功率为160W条件下制备出的Zn-Se/不锈钢薄膜,其表面结晶致密、均匀,Zn与Se的化学计量比为1:1.25。用所制备的薄膜材料作阴极,采用电化学复合技术处理罗丹明B模拟染料废水,可使模拟废水的脱色率接近99%,COD去除率接近90%。 展开更多
关键词 电沉积技术 Zn-se/不锈钢薄膜 工艺条件
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CdS(Se)掺 Cu薄膜的相结构和光电性能(英文)
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作者 郑毓峰 马忠权 +2 位作者 李锦 孙言飞 陈树义 《新疆大学学报(自然科学版)》 CAS 2002年第2期172-176,共5页
分别采用Χ射线衍射 (XRD)、俄歇电子谱 (AES)、Χ射线光电与谱 (XPS)研究喷涂烧结 Cd S(Se)薄膜在有氮气氛下热退火前后的结构 .并进一步研究了镉和硫化学态对表面层氧成分的影响 .结果表明 ,表现几个原子层范围内的 Cd S(Se)膜的非化... 分别采用Χ射线衍射 (XRD)、俄歇电子谱 (AES)、Χ射线光电与谱 (XPS)研究喷涂烧结 Cd S(Se)薄膜在有氮气氛下热退火前后的结构 .并进一步研究了镉和硫化学态对表面层氧成分的影响 .结果表明 ,表现几个原子层范围内的 Cd S(Se)膜的非化学计量组成和 Cd 展开更多
关键词 相结构 光电性能 CdO成份 光谱特性 硫化镉薄膜 铜掺杂 硒化镉薄膜 非化学计量组成
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非晶态Se薄膜晶化过程中微裂纹产生的研究
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作者 叶水驰 鲍海飞 +1 位作者 蓝幕杰 王骐 《材料科学与工艺》 EI CAS CSCD 1998年第3期77-80,共4页
薄膜在热处理过程中存在微观结构的变化。利用光学显微镜对非晶态Se薄膜在晶化过程中微裂纹的产生做了详细的分析和研究;利用位形坐标解释了非晶薄膜室温下转变的原因。并对三层结构的SiO/Se/SiO的晶化做了进一步研究。结... 薄膜在热处理过程中存在微观结构的变化。利用光学显微镜对非晶态Se薄膜在晶化过程中微裂纹的产生做了详细的分析和研究;利用位形坐标解释了非晶薄膜室温下转变的原因。并对三层结构的SiO/Se/SiO的晶化做了进一步研究。结果表明微裂纹的产生与晶化过程中原子重新排序、原子迁移导致晶界的产生和体积收缩产生的应力有关,裂纹的产生还同薄膜与衬底间的热失配有关。 展开更多
关键词 微裂纹 位形坐标晶化 非晶态 薄膜 晶化
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Cu_2Sn(S,Se)_3薄膜的溶液法制备及其光电性能研究
14
作者 陈建彪 常乐 +2 位作者 赵雲 李燕 王成伟 《西北师范大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2019年第2期50-54,共5页
采用低廉、简便及易于控制元素组成的溶液法在钠钙玻璃和钼玻璃基底上沉积Cu-Sn-S前驱体膜,随后在N_2保护下硒化获得到Cu_2Sn(S,Se)_3薄膜,并通过调控前驱薄膜的硒化退火温度,实现了对薄膜形貌、物相结构、电学及光学性能的有效调制.研... 采用低廉、简便及易于控制元素组成的溶液法在钠钙玻璃和钼玻璃基底上沉积Cu-Sn-S前驱体膜,随后在N_2保护下硒化获得到Cu_2Sn(S,Se)_3薄膜,并通过调控前驱薄膜的硒化退火温度,实现了对薄膜形貌、物相结构、电学及光学性能的有效调制.研究结果表明,适当的硒化退火温度,如480℃,可得到表面平整、结晶度高、晶粒致密和双层结构(上层大、下层小晶粒)的Cu_2Sn(S,Se)_3薄膜,其带隙为1.28 eV,载流子浓度可低至6.780×10^(17) cm^(-3),迁移率高达18.19 cm^2·V^(-1)·S^(-1),可用于薄膜太阳能电池的光吸收层. 展开更多
关键词 Cu2Sn(S se)3薄膜 溶液法 硒化温度
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Cu_2ZnSn(S,Se)_4薄膜太阳电池研究进展 被引量:5
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作者 张雪 韩洋 +4 位作者 柴双志 胡南滔 杨志 耿会娟 魏浩 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2016年第6期1330-1346,共17页
CdTe和Cu(In,Ga)(S,Se)_2(CIGSSe)光吸收材料在新型化合物半导体太阳电池研究中占据着主导地位。尽管CdTe和CIGS太阳电池拥有较高的转换效率和先进的技术,但是仍存在着一些问题,如所用材料中的元素地壳丰度低或有毒,这阻碍了其未来的大... CdTe和Cu(In,Ga)(S,Se)_2(CIGSSe)光吸收材料在新型化合物半导体太阳电池研究中占据着主导地位。尽管CdTe和CIGS太阳电池拥有较高的转换效率和先进的技术,但是仍存在着一些问题,如所用材料中的元素地壳丰度低或有毒,这阻碍了其未来的大规模应用。近年来,由于Cu_2ZnSn(S,Se)_4(CZTSSe)薄膜太阳电池使用的元素地壳含量丰富且环境友好,逐渐成为了研究的热点。CZTSSe光吸收材料被认为能够取代CdTe和CIGS成为下一代光伏技术的潜力材料。基于此,本文将简单介绍CZTSSe材料的结构、性质和制备方法。重点阐述CZTSSe材料的组装技术和沉积方法的发展和优势,如基于真空的沉积方法和基于溶液的沉积方法,简述其优缺点。此外,本文对CZTSSe组装和CZTSSe纳米晶制备方法的最新研究进展也进行了总结。最后,对CZTSSe光伏技术的一些限制因素进行了分析,并对CZTSSe薄膜电池未来的研究前景进行了展望。 展开更多
关键词 Cu2ZnSn(S se)4 薄膜 太阳电池 制备方法 研究进展
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铜锌锡硫硒(CZTSSe)薄膜的制备工艺及性能表征 被引量:1
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作者 王靖宇 朱成军 +1 位作者 邱继芳 刘倩 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2014年第4期527-531,共5页
本文以油胺为溶剂,采用液相法制备了Cu2ZnSnS4(CZTS)纳米颗粒,通过CZTS纳米浆滴涂法制备了CZTS薄膜,而后经固态硒源硒化工艺得到了CZTSSe薄膜,研究了制备工艺条件反应温度、气压、物质配比及退火温度等对样品的晶体结构及成分的影响。采... 本文以油胺为溶剂,采用液相法制备了Cu2ZnSnS4(CZTS)纳米颗粒,通过CZTS纳米浆滴涂法制备了CZTS薄膜,而后经固态硒源硒化工艺得到了CZTSSe薄膜,研究了制备工艺条件反应温度、气压、物质配比及退火温度等对样品的晶体结构及成分的影响。采用X射线衍射仪(XRD)、热重-差示扫描量热法(TG-DSC)、能谱分析(EDAX)对制备的CZTS粉末和CZTSSe薄膜样品进行了表征,结果表明在化学计量比和保压的条件下可得到单相性较好的前驱体粉末,由此得到的CZTSSe薄膜在500℃的硒化退火温度下能够形成具有单一锌黄锡矿结构、结晶程度较好的薄膜;由EDAX的成分分析结果可知,薄膜具有贫铜的成分,而且,随着温度的升高,Se元素含量增加最后趋于平稳,而S元素含量先减少后有增加趋势。 展开更多
关键词 太阳电池 铜锌锡硫硒(CZTSse)薄膜 滴涂法成膜
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Se量对CIGS薄膜的结构及光学性质的影响 被引量:2
17
作者 李文科 唐振方 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第3期408-411,共4页
Se量是影响CIGS薄膜生长的重要因素之一。本实验利用三步共蒸法在不同Se量常温下沉积CIGS薄膜,而后对衬底分三步在不同温度下真空退火,采用扫描电子显微镜(SEM)和能量散射谱(EDS)观察和分析了薄膜的表面形貌和元素成分,采用X射线衍射仪(... Se量是影响CIGS薄膜生长的重要因素之一。本实验利用三步共蒸法在不同Se量常温下沉积CIGS薄膜,而后对衬底分三步在不同温度下真空退火,采用扫描电子显微镜(SEM)和能量散射谱(EDS)观察和分析了薄膜的表面形貌和元素成分,采用X射线衍射仪(XRD)表征了薄膜的组织结构,采用紫外可见分光光度计(UV)研究了薄膜的光学性质,结果表明真空退火下Se量应严格控制在CuIn0.7Ga0.3Se2化学计量比范围内,这样有利于制备出较高吸收率的CIGS薄膜。 展开更多
关键词 CIGS薄膜 se 真空退火 晶体结构 光学性质
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Cu_2ZnSn(S,Se)_4纳米晶薄膜太阳能电池的研究进展 被引量:3
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作者 舒博 凌武定 韩奇峰 《上海师范大学学报(自然科学版)》 2015年第4期447-460,共14页
Cu2Zn Sn(S,Se)4(CZTSSe)材料因其光吸收系数高,具有理想的带隙,且所含元素丰度高、无毒等特性,非常适合作为太阳能电池的吸收层材料,有望成为低成本和高性能光伏发电的材料之一,引起广泛的关注.介绍了CZTSSe材料的基本物理性质及其纳... Cu2Zn Sn(S,Se)4(CZTSSe)材料因其光吸收系数高,具有理想的带隙,且所含元素丰度高、无毒等特性,非常适合作为太阳能电池的吸收层材料,有望成为低成本和高性能光伏发电的材料之一,引起广泛的关注.介绍了CZTSSe材料的基本物理性质及其纳米晶的生长机制,重点介绍了热注入方法合成CZTSSe纳米晶的过程,概述了目前CZTSSe纳米晶薄膜太阳能电池的现状,最后探讨了CZTSSe薄膜太阳电池中存在的问题及以后的发展方向. 展开更多
关键词 Cu2ZnSn(S se)4 热注入 纳米晶 薄膜太阳电池
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电沉积法制备CdSe薄膜及其光电性能
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作者 高云鹏 丁红 +2 位作者 苏泉 黎燕 钟福新 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2018年第3期221-227,共7页
采用电沉积法制备了硒化镉(CdSe)薄膜,讨论了Cd(NO3)2和H2SeO3摩尔比(n(Cd∶Se))、聚乙烯吡咯烷酮(PVP)浓度、沉积电压和时间等条件对CdSe薄膜光电压的影响,并对样品进行X射线衍射(XRD)、能谱分析(EDS)和扫描电子显微镜(... 采用电沉积法制备了硒化镉(CdSe)薄膜,讨论了Cd(NO3)2和H2SeO3摩尔比(n(Cd∶Se))、聚乙烯吡咯烷酮(PVP)浓度、沉积电压和时间等条件对CdSe薄膜光电压的影响,并对样品进行X射线衍射(XRD)、能谱分析(EDS)和扫描电子显微镜(SEM)等表征。结果表明,CdSe薄膜制备最优条件是在二甲基甲酰胺(DMF)体系中,以0.005 5 mol/L PVP、0.036 mol/L Cd(NO3)2、0.054 mol/L H2SeO3混合液为电解液,室温下3.0 V直流电压沉积15 min,可得最高0.3680 V光电压的CdSe薄膜。XRD表征显示,在2θ值为25.354°,42.010°,49.699°,67.083°和76.780°处出现了(111),(220),(311),(331)和(422)五个晶面衍射峰,与立方型CdSe标准衍射卡(PDF 19-0191)峰位相吻合。EDS分析表明,样品中Cd和Se质量分数分别为45.60%和51.65%,原子分数分别为36.84%和59.02%。SEM表征显示,样品中的CdSe呈多层链网结构,链直径尺寸为80300 nm。 展开更多
关键词 硒化镉(Cdse) 薄膜 二甲基甲酰胺 电沉积 光电性能
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Mn-Co-Ni红外探测器As-Se光学薄膜制备及性能研究
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作者 杨宇 李岩 +1 位作者 张弓 马莒生 《新技术新工艺》 2014年第7期64-66,共3页
采用真空热蒸发方法,在Ge基底上沉积As-Se光学薄膜(下述简称薄膜),考察薄膜中As含量对于薄膜软化点、14~16μm红外波段折射率及透射率的影响。通过XRF分析薄膜组成,并通过DTA 及维卡法分析薄膜软化点,利用PE Spectrum100型红外光谱议... 采用真空热蒸发方法,在Ge基底上沉积As-Se光学薄膜(下述简称薄膜),考察薄膜中As含量对于薄膜软化点、14~16μm红外波段折射率及透射率的影响。通过XRF分析薄膜组成,并通过DTA 及维卡法分析薄膜软化点,利用PE Spectrum100型红外光谱议,分析薄膜在14~16μm波段的透射率,利用红外干涉仪分析折射率。结果表明,As-Se薄膜制备过程中的元素损失较小,薄膜软化点随薄膜As含量不断升高,薄膜在14和16μm波段的折射率随As含量增大而增加,透射率随As含量增大而减小,中心波段透射率超过55%。 展开更多
关键词 红外探测器 As-se光学薄膜 真空热蒸发 性能
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