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以“截长补短”法测量自聚焦样品光学参数
1
作者
程希望
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1994年第5期494-496,共3页
利用过焦点光线的等光程性,对截距法做了原理改进,使之能同时测量聚焦常数(二次梯度常数)g和轴心折射率no,导出的公式亦可用于加工过程的检验。但所导出公式在测量中使用时应满足其傍轴近似条件,否则测量精度就会降低。
关键词
自聚焦
截长
补短
光学参数
下载PDF
职称材料
题名
以“截长补短”法测量自聚焦样品光学参数
1
作者
程希望
机构
中国科学院西安光学精密机械研究所
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1994年第5期494-496,共3页
文摘
利用过焦点光线的等光程性,对截距法做了原理改进,使之能同时测量聚焦常数(二次梯度常数)g和轴心折射率no,导出的公式亦可用于加工过程的检验。但所导出公式在测量中使用时应满足其傍轴近似条件,否则测量精度就会降低。
关键词
自聚焦
截长
补短
光学参数
Keywords
selfo c
c
utting the longth
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分类号
O437.5 [机械工程—光学工程]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
以“截长补短”法测量自聚焦样品光学参数
程希望
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1994
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