同步动态随机存储器时序参数容限测试方法研究

对同步动态随机存储器(SDRAM)的时序参数进行了分析,并采用Shmoo测试方法,对某国产DDR2 SDRAM的t RCD、t RAS、t RP、t RC、t CK等时序参数的容限进行了测试。通过与JEDEC标准的对比验证,证明该产品的时序参数满足JEDEC标准的要求,并得到了相关参数的容限,为该类产品的质量评估和可靠应用提供了参考。