Correlation between Light Emissions from Amorphous-Si：H/SiO2 and nc-Si/SiO2 Multilayers

我们从 amorphous-Si 调查轻排放的性质: H/SiO2 andnc-Si/SiO2 multilayers (ML ) 。当时，轻排放的尺寸依赖很好被展出 thea-Si : H 潜水艇层厚度比 4 nm 薄，接口状态好由氢使钝化。为 nc-Si/SiO2 ML，修改接口说的氧和 nanocrystalline 硅在轻排放的性质起一个占优势的作用。nc-Si 的尺寸什么时候比 4 nm 小，被发现从 nc-Si/SiO2 的轻排放与与量监禁结合的接口状态的模型一致。氢和氧的角色详细被讨论。

含纳米硅微粒的富硅二氧化硅的蓝色薄膜交流电致发光

用磁控射频反应溅射制备了含纳米硅微粒的富硅ＳｉＯ２薄膜并获得了蓝色的交流薄膜电致发光．通过热退火结合喇曼散射等手段判定蓝色发光谱带与富硅ＳｉＯ２薄膜的纳米硅晶粒有关．