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HBr反应离子刻蚀硅深槽 被引量:1
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作者 刘家璐 张廷庆 +2 位作者 刘华预 王清平 叶兴耀 《微电子学》 CAS CSCD 1995年第4期39-44,共6页
对HBr反应离子刘蚀硅和SiO_2进行了实验研究。介绍了HBr等离子体的刻蚀特性,讨论了HBr反应离子刻蚀硅的刻蚀机理,研究了HBr中微量氧、碳对HBrRIE刻蚀过程的影响。实验表明,HBr是一种刻蚀硅深槽理想的含原... 对HBr反应离子刘蚀硅和SiO_2进行了实验研究。介绍了HBr等离子体的刻蚀特性,讨论了HBr反应离子刻蚀硅的刻蚀机理,研究了HBr中微量氧、碳对HBrRIE刻蚀过程的影响。实验表明,HBr是一种刻蚀硅深槽理想的含原子溴反应气体。采用HBrRIE,可获得高选择比(对Si/SiO_2)和良好的各向异性。 展开更多
关键词 反应离子刻蚀 硅槽刻蚀 集成电路
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硅槽刻蚀技术中的源气体选择 被引量:2
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作者 王清平 苏韧 《微电子学》 CAS CSCD 1994年第6期65-68,共4页
源气体及组分的选择是硅槽刻蚀技术的关键因素。本文介绍了刻蚀过程中源气体及组分对硅的作用方式,从刻蚀速率、侧壁钝化、损伤、刻蚀均匀性等方面分析比较了近年来所出现的几种硅糟刻蚀用源气体及组分。
关键词 硅槽刻蚀 源气体 刻蚀
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