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题名Si基埋置型GaAs芯片封装技术及其热分析
被引量:3
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作者
赵敏
周健
孙浩
伍滨和
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机构
东华大学理学院
中国科学院上海微系统与信息技术研究所
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出处
《电子器件》
CAS
北大核心
2020年第3期477-481,共5页
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基金
中科院联合基金项目(6141A01100101)。
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文摘
传统贴置型芯片封装集成度低、散热效果差,为提高GaAs芯片的封装集成度与散热效果,基于MEMS异质集成技术提出一种毫米波硅埋置型三维封装模型结构,借助COMSOL软件开展热学仿真优化,得到芯片温度与封装基板厚度、底座厚度、涂覆银浆厚度、硅通孔(TSV)距离芯片中心位置及个数的变化规律,获得芯片埋置的热学最优化工艺参数。最终确定的模型集成度高、体积小、散热效果好,封装体积仅为20 mm×10 mm×1 mm,可以实现三维堆叠,芯片工作温度要比传统贴片封装模型降低13.64℃,符合芯片正常工作的温度需求。
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关键词
封装散热
GaAs芯片
si基埋置型
TSV通孔
热学仿真
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Keywords
package heat dissipation
GaAs chip
si-based embedded type
through-silicon via
thermal simulation
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分类号
TN305.94
[电子电信—物理电子学]
TN43
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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