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The n-type Si-based materials applied on the front surface of IBC-SHJ solar cells
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作者 Jianhui Bao Ke Tao +2 位作者 Yiren Lin Rui Jia Aimin Liu 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2019年第9期353-358,共6页
Interdigitated back contact silicon hetero-junction(IBC-SHJ) solar cells exhibit excellent performance owing to the IBC and SHJ structures.The front surface field(FSF) layer composed of electric field passivation and ... Interdigitated back contact silicon hetero-junction(IBC-SHJ) solar cells exhibit excellent performance owing to the IBC and SHJ structures.The front surface field(FSF) layer composed of electric field passivation and chemical passivation has been proved to play an important role in IBC-SHJ solar cells.The electric field passivated layer n^+-a-Si: H, an n-type Si alloy with carbon or oxygen in amorphous phase, is simulated in this study to investigate its effect on IBC-SHJ.It is indicated that the n^+-a-Si: H layer with wider band gap can reduce the light absorption on the front side efficaciously,which hinders the surface recombination of photo-generated carriers and thus contributes to the improvement of the short circuit current density Jsc.The highly doped n^+-a-Si: H can result in the remakable energy band bending, which makes it outstanding in the field passivation, while it makes little contribution to the chemical passivation.It is noteworthy that when the electric field intensity exceeds 1.3 × 10^5 V/cm, the efficiency decrease caused by the inferior chemical passivation is only 0.16%.In this study, the IBC-SHJ solar cell with a front n^+-a-Si: H field passivation layer is simulated, which shows the high efficiency of 26% in spite of the inferior chemical passivation on the front surface. 展开更多
关键词 si-based doped materials PASSIVATION interdigitated BACK contact silicon hetero-junction(IBC-SHJ) solar cell simulation
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High-performance magnesium-based thermoelectric materials:Progress and challenges 被引量:3
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作者 Zizhen Zhou Guang Han +2 位作者 Xu Lu Guoyu Wang Xiaoyuan Zhou 《Journal of Magnesium and Alloys》 SCIE EI CAS CSCD 2022年第7期1719-1736,共18页
Magnesium-based materials have been regarded as promising candidates for large-scale,high-efficiency thermoelectric applications,owing to their excellent dimensionless figure of merit,high abundance,and low cost.In th... Magnesium-based materials have been regarded as promising candidates for large-scale,high-efficiency thermoelectric applications,owing to their excellent dimensionless figure of merit,high abundance,and low cost.In this review,we comprehensively summarize the recent advances of Mg-based thermoelectrics,including Mg_(2)X(X=Si,Ge,Sn),Mg3(Sb,Bi)_(2),andα-MgAgSb,from both material and device level.Their electrical and thermal transport properties are first elucidated based on the crystallographic characteristics,band structures,and phonon dispersions.We then review the optimization strategies towards higher thermoelectric performance,as well as the device applications of Mg-based thermoelectric materials and the related engineering issues.By highlighting the challenges and possible solutions in the end,this review intends to offer perspectives on the future research work to further enhance the performance of Mg-based materials for practical applications. 展开更多
关键词 THERMOELECTRIC Mg-based materials Mg_(2)(Si ge Sn) Mg_(3)Sb_(2) MgAgSb Thermoelectric device
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GE Advanced Materials新添两种等级的树脂
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《电子产品世界》 2004年第06B期33-33,共1页
关键词 ge ADVANCED materials公司 树脂 阻燃性能 LEXAN EXL
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GE Advanced Materials用于光学显示的漫射膜
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《电子产品世界》 2004年第06B期31-31,共1页
关键词 ge ADVANCED materials公司 光学显示 漫射膜 ILLUMINFX
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GE Advanced Materials基于高性能树脂的薄膜
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《电子产品世界》 2004年第06B期33-34,共2页
关键词 ge ADVANCED materials公司 Ultem1000B Ultem5000B 树脂 薄膜
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Geometric and material nonlinear analysis of tensegrity structures 被引量:8
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作者 Hoang Chi Tran Jaehong Lee 《Acta Mechanica Sinica》 SCIE EI CAS CSCD 2011年第6期938-949,共12页
A numerical method is presented for the large deflection in elastic analysis of tensegrity structures including both geometric and material nonlinearities.The geometric nonlinearity is considered based on both total L... A numerical method is presented for the large deflection in elastic analysis of tensegrity structures including both geometric and material nonlinearities.The geometric nonlinearity is considered based on both total Lagrangian and updated Lagrangian formulations,while the material nonlinearity is treated through elastoplastic stress-strain relationship.The nonlinear equilibrium equations are solved using an incremental-iterative scheme in conjunction with the modified Newton-Raphson method.A computer program is developed to predict the mechanical responses of tensegrity systems under tensile,compressive and flexural loadings.Numerical results obtained are compared with those reported in the literature to demonstrate the accuracy and efficiency of the proposed program.The flexural behavior of the double layer quadruplex tensegrity grid is sufficiently good for lightweight large-span structural applications.On the other hand,its bending strength capacity is not sensitive to the self-stress level. 展开更多
关键词 Nonlinear analysis Tensegrity structures ge- ometric nonlinearity material nonlinearity Large displacements
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A Novel Sample Introduction Technique for the Simultaneous Determination of As,Se,Ge and Hg in Chinese Medicinal Material 被引量:1
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《Chemical Research in Chinese Universities》 SCIE CAS CSCD 2001年第4期400-406,共7页
A novel technique of Moveable Reduction Bed Hydride Generator(MRBHG)was applied tohe hydride generation or cold vapor generation of As,Se,Ge,and Hg existing In TraditionalChinese Medicinal Material(TCM).The si... A novel technique of Moveable Reduction Bed Hydride Generator(MRBHG)was applied tohe hydride generation or cold vapor generation of As,Se,Ge,and Hg existing In TraditionalChinese Medicinal Material(TCM).The simultaneous determination of the multi-elements wasperformed with ICP-MS.A solid reduction system involving the use of potassiumtetraborohydride and tartaric acid was applied to generating metal hydride or cold vaporefficiently.The factors affecting the metal cold vapor generation were studied.The mainadvantage of the technique is that only a 4μL volume of sample was required for the cold vapor 展开更多
关键词 for the Simultaneous Determination of As Se ge A Novel Sample Introduction Technique CHINESE materiAL MEDICINAL and HG ge
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Progress of Si-based Optoelectronic Devices
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作者 PENGYing-cai FUGuang-sheng +1 位作者 WANGYing-long SHANGYong 《Semiconductor Photonics and Technology》 CAS 2004年第3期158-163,共6页
Si-based optoelectronics is becoming a very active research area due to its potential applications to optical communications.One of the major goals of this study is to realize all-Si optoelectronic integrated circuit.... Si-based optoelectronics is becoming a very active research area due to its potential applications to optical communications.One of the major goals of this study is to realize all-Si optoelectronic integrated circuit.This is due to the fact that Si-based optoelectronic technology can be compatible with Si microelectronic technology.If Si-based optoelectronic devices and integrated circuits can be achieved,it will lead to a new informational technological revolution.In the article,the current developments of this exciting field are mainly reviewed in the recent years.The involved contents are the realization of various Si-based optoelectronic devices,such as light-emitting diodes,optical waveguides devices,Si photonic bandgap crystals,and Si laser,etc.Finally,the developed tendency of all-Si optoelectronic integrated technology are predicted in the near future. 展开更多
关键词 Nanocrystalline materials si-based luminescent devices All-Si optoelectronic integrated technology
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Research progress of Si-based germanium materials and devices 被引量:1
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作者 成步文 李成 +1 位作者 刘智 薛春来 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2016年第8期1-9,共9页
Si-based germanium is considered to be a promising platform for the integration of electronic and pho- tonic devices due to its high carrier mobility, good optical properties, and compatibility with Si CMOS technology... Si-based germanium is considered to be a promising platform for the integration of electronic and pho- tonic devices due to its high carrier mobility, good optical properties, and compatibility with Si CMOS technology. However, some great challenges have to be confronted, such as: (1) the nature of indirect band gap of Ge; (2) the epitaxy of dislocation-free Ge layers on Si substrate; and (3) the immature technology for Ge devices. The aim of this paper is to give a review of the recent progress made in the field of epitaxy and optical properties of Ge heterostructures on Si substrate, as well as some key technologies on Ge devices. High crystal quality Ge epilayers, as well as Ge/SiGe multiple quantum wells with high Ge content, were successfully grown on Si substrate with a low-temperature Ge buffer layer. A local Ge condensation technique was proposed to prepare germanium-on- insulator (GOI) materials with high tensile strain for enhanced Ge direct band photoluminescence. The advances in formation of Ge n+p shallow junctions and the modulation of Schottky barrier height of metal/Ge contacts were a significant progress in Ge technology. Finally, the progress of Si-based Ge light emitters, photodetectors, and MOSFETs was briefly introduced. These results show that Si-based Ge heterostructure materials are promising for use in the next-generation of integrated circuits and optoelectronic circuits. 展开更多
关键词 ge ge-on-insulator si-based EPITAXY light emitting diode PHOTODETECTOR MOSFET
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Ge衬底上GaInP_2材料的生长研究 被引量:2
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作者 李晓婷 汪韬 +1 位作者 赛小锋 张志勇 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第6期909-911,共3页
采用自制的低压金属有机化学汽相淀积LPMOCVD设备,在(100)面偏(110)面9°的Ge单晶衬底上外延生长了GaInP2材料,研究了生长温度、Ⅴ/Ⅲ比、生长速率等生长参数对GaInP2材料的表面形貌和固相组分的影响.结果表明,当GaInP2材料的生长... 采用自制的低压金属有机化学汽相淀积LPMOCVD设备,在(100)面偏(110)面9°的Ge单晶衬底上外延生长了GaInP2材料,研究了生长温度、Ⅴ/Ⅲ比、生长速率等生长参数对GaInP2材料的表面形貌和固相组分的影响.结果表明,当GaInP2材料的生长温度为650~680℃,生长速率为25~35nm/min,Ⅴ/Ⅲ为180~220时,获得了满足级联电池的GaInP2材料. 展开更多
关键词 LP-MOCVD GalnP2 ge 材料
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离子束溅射制备Si/Ge多层膜及红外吸收性能研究 被引量:5
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作者 刘焕林 郝瑞亭 杨宇 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第2期280-284,共5页
采用离子束溅射方法在S i衬底上制备S i/Ge多层膜。通过改变生长温度、溅射速率等因素得到一系列S i/Ge多层膜样品。通过X射线衍射、拉曼散射、原子力显微分析(AFM)等表征方法研究薄膜结构与生长条件的关系。在小束流(10mA)、室温条件... 采用离子束溅射方法在S i衬底上制备S i/Ge多层膜。通过改变生长温度、溅射速率等因素得到一系列S i/Ge多层膜样品。通过X射线衍射、拉曼散射、原子力显微分析(AFM)等表征方法研究薄膜结构与生长条件的关系。在小束流(10mA)、室温条件下制备出界面清晰、周期完整的S i/Ge多层膜。通过红外吸收谱的测量发现薄膜样品具有较好的红外吸收性能。 展开更多
关键词 Si/ge多层膜 离子束溅射 红外探测材料
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Au-Ag-Ge钎料的研究 被引量:7
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作者 崔大田 王志法 +2 位作者 姜国圣 郑秋波 吴泓 《贵金属》 CAS CSCD 2006年第1期16-20,共5页
通过对Au-Ag-Ge三元相图的分析确定了Au-19.25Ag-12.80Ge共晶钎料,采取包复热轧后再冷轧制备出厚度为0.1mm的钎料合金薄带,测试了该合金的熔化特性和对Ni板的浸润性。研究结果表明该钎料合金的液、固相线温度分别为490.1℃和445.0℃,合... 通过对Au-Ag-Ge三元相图的分析确定了Au-19.25Ag-12.80Ge共晶钎料,采取包复热轧后再冷轧制备出厚度为0.1mm的钎料合金薄带,测试了该合金的熔化特性和对Ni板的浸润性。研究结果表明该钎料合金的液、固相线温度分别为490.1℃和445.0℃,合金在≤550℃下对Ni板的润湿角<15°,在Ni板上的铺展面积随着温度从490℃升至550℃而逐渐增大。该合金可以满足电子器件封装焊接的要求。 展开更多
关键词 金属材料 Au—Ag—ge钎料 熔化特性 浸润性及铺展面积 电子器件封装
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富有机物流体中一些重要Ge同位素的平衡分馏参数 被引量:2
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作者 李雪芳 唐茂 刘耘 《地球化学》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期299-306,共8页
锗(Ge)同位素在地球化学领域有着潜在的应用意义,但是Ge同位素平衡分馏参数的缺乏,严重制约了其在相关研究中的应用。本研究提供了富有机物流体中物种Ge(OH)4、GeO(OH)3-以及Ge的一些亲有机质络合物(Ge与邻苯二酚、柠檬酸以及草酸配合... 锗(Ge)同位素在地球化学领域有着潜在的应用意义,但是Ge同位素平衡分馏参数的缺乏,严重制约了其在相关研究中的应用。本研究提供了富有机物流体中物种Ge(OH)4、GeO(OH)3-以及Ge的一些亲有机质络合物(Ge与邻苯二酚、柠檬酸以及草酸配合形成的络合物)之间的Ge同位素平衡分馏参数。用基于Urey模型(或称Bigeleisen-Mayer公式)理论,结合量子化学计算的方法,在B3LYP/6-311+G(d,p)理论水平下计算了这些Ge同位素平衡分馏系数,其中,溶液效应用精确的"水滴法"来处理。预测这些基本分馏参数的误差约为±0.2‰。纯水溶液中,ΔGe(OH)4-GeO(OH)3-约为0.6‰,海水中稍小,约为0.3‰;而ΔGe(OH)4-Ge-邻苯二酚、ΔGe(OH)4-Ge-草酸、ΔGe(OH)4-Ge-柠檬酸(c)和ΔGe(OH)4-Ge-柠檬酸(d)非常大,分别约为4.4‰、3.5‰、3.8‰和3.9‰。这些大的分馏或许可以用来示踪生物作用参与过程。结果表明,轻的Ge同位素将富集在富有机质的环境,如煤系、黑色页岩及一些缺氧的条件下,因此这些环境可能存在一个轻Ge同位素的"汇"。 展开更多
关键词 ge同位素 ge(OH)4 geO(OH)3- 有机物 UREY模型 量子化学计算
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四探针法测量应变Si_(1-x)Ge_x掺杂浓度 被引量:2
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作者 戴显英 王伟 +4 位作者 张鹤鸣 何林 张静 胡辉勇 吕懿 《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第2期255-258,280,共5页
在对Si1-xGex材料多子迁移率模型分析基础上,建立了Si1-xGex材料电阻率与其Ge组分、掺杂浓度关系的曲线图谱.经过对半导体材料掺杂浓度各种表征技术的分析和实验研究,提出了采用四探针法表征Si1-xGex材料掺杂浓度的技术.该表征技术与Si... 在对Si1-xGex材料多子迁移率模型分析基础上,建立了Si1-xGex材料电阻率与其Ge组分、掺杂浓度关系的曲线图谱.经过对半导体材料掺杂浓度各种表征技术的分析和实验研究,提出了采用四探针法表征Si1-xGex材料掺杂浓度的技术.该表征技术与Si材料掺杂浓度的在线检测技术相容,且更加简捷.通过实验及对Si1-xGex材料样品掺杂浓度的现代理化分析验证了其可行性. 展开更多
关键词 测量 应变 Si1-xgex材料 迁移率模型 电阻率 掺杂浓度 四探针 硅锗材料 半导体材料
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GE公司复合材料风扇叶片的发展和工艺 被引量:23
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作者 李杰 《航空发动机》 2008年第4期54-55,共2页
对GE公司复合材料风扇叶片的发展和工艺作了简要介绍与分析。
关键词 ge公司 复合材料 风扇叶片 发展 工艺
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g-C_(3)N_(4)复合Ge锂离子电池负极材料的制备及其性能 被引量:1
16
作者 殷立雄 李书航 +3 位作者 宋佳琪 黄剑锋 赵津 白培杰 《陕西科技大学学报》 北大核心 2022年第2期109-113,137,共6页
锗由于有较高的质量容量(1600 mAh/g)、良好的电子传导率和锂离子扩散性等优点,在电极材料领域广受关注.然而锗基材料充电时巨大的体积膨胀极其影响电池寿命.以三聚氰胺为碳源,利用简单工艺制备出氮化碳(g-C_(3)N_(4))复合锗(Ge)材料(Ge... 锗由于有较高的质量容量(1600 mAh/g)、良好的电子传导率和锂离子扩散性等优点,在电极材料领域广受关注.然而锗基材料充电时巨大的体积膨胀极其影响电池寿命.以三聚氰胺为碳源,利用简单工艺制备出氮化碳(g-C_(3)N_(4))复合锗(Ge)材料(Ge/CN).研究了不同水热温度对Ge/CN复合电极形貌及储锂性能的影响.通过SEM和电化学性能测试发现,当水热温度为180℃时,Ge/CN-2电极形貌为孔隙丰富的层级结构且储锂性能最好.于0.1 A/g的电流密度下第一圈放电比容量高达1275.7 mAh/g,经100圈循环后容量仍有684.2 mAh/g,电化学性能良好. 展开更多
关键词 锂离子电池 复合材料 电化学性能
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Gd_5Si_2Ge_2相的线状缺陷
17
作者 付浩 陈云贵 +1 位作者 张铁邦 涂铭旌 《中国稀土学报》 CAS CSCD 北大核心 2005年第4期409-413,共5页
使用X射线粉末衍射(XRD)表征了电弧炉熔炼的Gd5Si2Ge2.2合金的相组成,结果表明Gd5Si2Ge2.2合金主要由Gd5Si2Ge2相和GdGe相构成。扫描电镜(SEM)分析表明,Gd5Si2Ge2晶粒内部有大量规则分布的线状特征;透射电镜(TEM)研究发现了Gd5Si2Ge2相... 使用X射线粉末衍射(XRD)表征了电弧炉熔炼的Gd5Si2Ge2.2合金的相组成,结果表明Gd5Si2Ge2.2合金主要由Gd5Si2Ge2相和GdGe相构成。扫描电镜(SEM)分析表明,Gd5Si2Ge2晶粒内部有大量规则分布的线状特征;透射电镜(TEM)研究发现了Gd5Si2Ge2相的基体上存在两种不同形态的线条组织,选区电子衍射证明两种不同形态的线条组织既非第二相也非孪晶;根据高温原位金相观察的结果推测,该线状组织是在液-固相变过程中形成的。 展开更多
关键词 GdSige合金 磁致冷材料 显微组织缺陷 稀土
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Li_(1.05)Fe(PO_4)_(1-x)(GeO_3)_x/C正极材料的制备及性能研究
18
作者 李变云 鲍雨 +1 位作者 黄维静 童庆松 《华南师范大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2009年第A02期66-67,78,共3页
采用固相烧结法,在惰性气氛下制备了橄榄石型Li1.05Fe(PO4)1-x(GeO3)x/C(x=0.021,0.054,0.086)复合材料.采用X粉末衍射仪、充放电循环、循环伏安和交流阻抗等现代测试手段表征制备的样品的电化学性能.实验结果表明:掺锗可显著改善LiFePO... 采用固相烧结法,在惰性气氛下制备了橄榄石型Li1.05Fe(PO4)1-x(GeO3)x/C(x=0.021,0.054,0.086)复合材料.采用X粉末衍射仪、充放电循环、循环伏安和交流阻抗等现代测试手段表征制备的样品的电化学性能.实验结果表明:掺锗可显著改善LiFePO4的大电流放电性能.理论组成为Li1.05Fe(PO4)0.95(GeO3)0.054/C的样品的电化学性能最佳. 展开更多
关键词 锂离子电池 掺杂ge 磷酸亚铁锂 正极材料
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离子束溅射制备Si/Ge多层膜研究
19
作者 刘焕林 郝瑞亭 +1 位作者 陈刚 杨宇 《中国材料科技与设备》 2006年第2期55-57,共3页
采用离子束溅射方法在Si衬底上制备Si/Ge多层膜,通过改变生长温度、溅射速率等因素得到一系列Si/Ge多层膜样品;通过X射线衍射、Raman散射等表征方法研究薄膜结构与生长条件的关系。在小束流(10mA)、室温条件下制备出界面清晰、周... 采用离子束溅射方法在Si衬底上制备Si/Ge多层膜,通过改变生长温度、溅射速率等因素得到一系列Si/Ge多层膜样品;通过X射线衍射、Raman散射等表征方法研究薄膜结构与生长条件的关系。在小束流(10mA)、室温条件下制备出界面清晰、周期完整的Si/Ge多层膜。 展开更多
关键词 Si/ge多层膜 离子束溅射 红外探测材料
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用于最新技术节点Ge和SiGe的CMP技术研究进展 被引量:1
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作者 潘柏臣 张保国 +1 位作者 赵帅 周朝旭 《微纳电子技术》 北大核心 2016年第9期623-629,共7页
对锗和锗化硅材料应用及发展前景进行了简单介绍。主要论述了在14 nm技术节点以下应用于pMOS晶体管沟道材料的锗的化学机械抛光(CMP)技术的发展现状,如抛光液组分的优化以及工艺参数的革新,经过CMP后,Ge的表面粗糙度可以有效降低到0.175... 对锗和锗化硅材料应用及发展前景进行了简单介绍。主要论述了在14 nm技术节点以下应用于pMOS晶体管沟道材料的锗的化学机械抛光(CMP)技术的发展现状,如抛光液组分的优化以及工艺参数的革新,经过CMP后,Ge的表面粗糙度可以有效降低到0.175 nm(10μm×10μm)。此外对在最新技术节点应用于CMOS以及缓冲层的SiGe材料的CMP技术发展现状进行了总结分析,通过浅沟道隔离技术以及使用优化后的抛光液对Si_(0.5)Ge_(0.5)沟道材料进行化学机械抛光处理后的表面粗糙度为0.09 nm(1μm×1μm)。最后,对目前国内外Ge和SiGe的CMP技术发展现状进行了总结,指出当前CMP技术存在的问题并对其未来发展方向进行了展望。 展开更多
关键词 锗化硅 14 nm技术节点 化学机械抛光(CMP) 沟道材料
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