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SiC肖特基接触的直接隧穿效应
被引量:
5
1
作者
汤晓燕
张义门
+2 位作者
张玉明
郭辉
张林
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第1期174-177,共4页
通过精确求解一维定态薛定谔方程得到电子通过三角形势垒的隧穿几率,模拟了SiC肖特基接触的直接隧穿效应.结果显示该方法比WKB近似更精确,同时也更适合工作在高场条件下的SiC材料,并且能够连续地计算热电子发射电流和隧穿电流.
关键词
sic肖特基接触
直接隧穿
WKB近似
下载PDF
职称材料
题名
SiC肖特基接触的直接隧穿效应
被引量:
5
1
作者
汤晓燕
张义门
张玉明
郭辉
张林
机构
西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第1期174-177,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(批准号:J60404250140)~~
文摘
通过精确求解一维定态薛定谔方程得到电子通过三角形势垒的隧穿几率,模拟了SiC肖特基接触的直接隧穿效应.结果显示该方法比WKB近似更精确,同时也更适合工作在高场条件下的SiC材料,并且能够连续地计算热电子发射电流和隧穿电流.
关键词
sic肖特基接触
直接隧穿
WKB近似
Keywords
sic
Schottky contact
direct tunneling
WKB approximation
分类号
TN304 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
SiC肖特基接触的直接隧穿效应
汤晓燕
张义门
张玉明
郭辉
张林
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006
5
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职称材料
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