SiO_2二次纳米粒子热处理后微结构变化的TEM观察

本文通过透射电子显微镜(TEM)观察到由空气-水界面上生成的SiO2二次纳米粒子煅烧后所发生的微结构变化,探讨了变化机理。结果表明:SiO2二次粒子中一次粒子的直径在400℃煅烧后从外向里呈现递减变化;外层粒子受热长大形成堆积孔,导致内部较小的一次粒子通过堆积孔的空隙在超声震荡下散逸出来。