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5.12 Gbps高速抗辐照并串转换芯片的设计
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作者 刘刚 江晓山 +4 位作者 龚达涛 刘天宽 叶竞波 樊磊 赵京伟 《核电子学与探测技术》 CAS 北大核心 2015年第5期443-447,共5页
本文介绍了一种用于粒子物理实验的抗辐照高速并串转换电路芯片的设计,重点介绍了SOS抗辐照工艺,并串转换电路的结构。实现了一款基于SOS 0.25um工艺的8位5.12Gbps并串转换芯片,测试得到芯片的总晃动(total jitter)=53.20ps,其中随机晃... 本文介绍了一种用于粒子物理实验的抗辐照高速并串转换电路芯片的设计,重点介绍了SOS抗辐照工艺,并串转换电路的结构。实现了一款基于SOS 0.25um工艺的8位5.12Gbps并串转换芯片,测试得到芯片的总晃动(total jitter)=53.20ps,其中随机晃动(random jitter)=1.84ps,确定性晃动(deterministic jitter)=33.93ps。 展开更多
关键词 silicon-on-sapphire 并串转换 CML JITTER
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