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探测器级高阻硅及其与器件的关系 被引量:1
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作者 郭云英 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 1994年第6期321-327,共7页
本文就探测器级硅单晶的制备工艺和参数等进行了有益的探讨,发现高真空深度提纯之区熔硅单晶中的细微缺陷,乃是影响探测器制作和性能的关键参数。
关键词 探测器级 硅单晶 细微缺陷 探测器 制作 匹配
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