超声检测小晶片斜探头折射角(K值)的测试方法探讨

超声检测使用小晶片斜探头,检测前按标准要求测定入射点(前沿距离)和折射角(K值)。当采用CSK-IA标准试块测定折射角时,结果与标称值偏差超过性能指标要求。本文通过在测试中选择CSK-IA标准试块不同反射体以及选择CSK-IIA-1对比试块上不同深度位置的反射体,对比K值测试结果并分析原因,得出在不增加试块的前提下,根据现有试块上的参考反射体测定K值,提高K值测定精度,进而提高检测中缺陷的定位精度。