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一种高纯有机物纯度的测定方法——熔点下降薄层比较法 被引量:5
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作者 贾瑞华 张大建 《化学计量》 1996年第1期1-3,共3页
介绍了熔点下降薄层比较法的原理、计算方法和测量时需注意的问题。熔点下降薄层比较法测定纯度具有可靠的热力学基础,改进的Smit装置测温准确可靠,测定的纯度具有溯源性。
关键词 熔点 薄层比较法 有机物 纯度 smit装置 热力学
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