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一种高纯有机物纯度的测定方法——熔点下降薄层比较法
被引量:
5
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作者
贾瑞华
张大建
《化学计量》
1996年第1期1-3,共3页
介绍了熔点下降薄层比较法的原理、计算方法和测量时需注意的问题。熔点下降薄层比较法测定纯度具有可靠的热力学基础,改进的Smit装置测温准确可靠,测定的纯度具有溯源性。
关键词
熔点
薄层比较法
有机物
纯度
smit装置
热力学
下载PDF
职称材料
题名
一种高纯有机物纯度的测定方法——熔点下降薄层比较法
被引量:
5
1
作者
贾瑞华
张大建
机构
天津市计量技术研究所
出处
《化学计量》
1996年第1期1-3,共3页
文摘
介绍了熔点下降薄层比较法的原理、计算方法和测量时需注意的问题。熔点下降薄层比较法测定纯度具有可靠的热力学基础,改进的Smit装置测温准确可靠,测定的纯度具有溯源性。
关键词
熔点
薄层比较法
有机物
纯度
smit装置
热力学
Keywords
thin film comparative method of cryoscopy
high pure organic compound
purity
smit
apparatus
分类号
O656 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
一种高纯有机物纯度的测定方法——熔点下降薄层比较法
贾瑞华
张大建
《化学计量》
1996
5
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职称材料
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