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题名Sn基焊料/Cu界面IMC形成机理的研究进展
被引量:13
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作者
刘雪华
唐电
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机构
福州大学材料研究所
福建工程学院材料科学与工程系
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出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第5期72-76,共5页
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基金
国家"863"资助项目(No.2007AA03Z325)
福建省发改委"发明创造"专项资助项目
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文摘
锡基无铅焊料和Cu基材界面间容易形成Cu6Sn5、Cu3Sn及其他金属间化合物(IMC),而IMC将剧烈地影响焊接接头的性能,故对其的研究有助于了解IMC形成的本质,从而控制其形成和长大,以改善接头性能。综述了近期的研究结果,指出Cu6Sn5易形成扇贝状,而Cu3Sn常常为薄层状;其形成过程在固–固界面和固–液(焊料)界面上具有不同特点。热力学分析指出,IMC形成受扩散控制,不同的合金元素可改变IMC的形成驱动力△ G,对其形成和生长有不同的影响。无铅焊料与传统Pb-Sn焊料相比,更易产生IMC,也更易导致接头早期失效。
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关键词
sn基无铅焊料
金属间化合物
综述
可靠性
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Keywords
sn-based lead-free solder
intermetallic compound
review
reliability
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分类号
TM277
[一般工业技术—材料科学与工程]
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