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Break-up Process of Perturbed Molten Metal Jet and Preparation of Lead-Free Solder Balls
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作者 He Lijun Zhang Shuguang +2 位作者 Zhang Shaoming Xu Jun Shi Likai 《Journal of Rare Earths》 SCIE EI CAS CSCD 2004年第z2期174-177,共4页
Solder balls, which are used in advanced electronics packages such as BGA (Ball Grid Array) and CSP (Chip Scale Package) to substitute the leads and realize the electrical and mechanical connections between substrate ... Solder balls, which are used in advanced electronics packages such as BGA (Ball Grid Array) and CSP (Chip Scale Package) to substitute the leads and realize the electrical and mechanical connections between substrate and chip,have severe specifications in diameter tolerance, roundness and surface quality, and therefore challenge the traditional technologies for fabrication of metallic particles and powders. The present work made a survey of perturbed molten metal jet break-up process, observed the formation and growth of capillary wave of tin-lead melt jet by way of rapid solidification, and on the basis of the above research, successfully obtained tin-lead eutectic and Sn-4.0Ag-0.5Cu lead free solder balls with tight distribution and good sphericity of particles through optimization of processing parameters, forming a solid base for cost effectively producing solder balls. 展开更多
关键词 solder balls jet break-up capillary wave PERTURBATION
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Study on laser and hot air reflow soldering of PBGA solder ball
2
作者 田艳红 王春青 《China Welding》 EI CAS 2002年第2期156-160,共5页
Laser and hot air reflow soldering of PBGA solder ball was investigated. Experimental results showed that surface quality and shear strength of solder bump reflowed by laser was superior than the solder bump by hot ai... Laser and hot air reflow soldering of PBGA solder ball was investigated. Experimental results showed that surface quality and shear strength of solder bump reflowed by laser was superior than the solder bump by hot air, and the microstructure within the solder bump reflowed by laser was much finer. Analysis on interfacial reaction showed that eutectic solder reacted with Au/Ni/Cu pad shortly after the solder was melted. Interface of solder bump reflowed by laser consists of a continuous AuSn 4 layer and remnant Au element. Needle like AuSn 4 grew sidewise from interface, and then spread out to the entire interface region. A thin layer of Ni 3Sn 4 intermetallic compound was found at the interface of solder bump reflowed by hot air, and AuSn 4 particles distributed within the whole solder bump randomly. The combination effect of the continuous AuSn 4 layer and finer eutectic microstructure contributes to the higher shear strength of solder bump reflowed by laser. 展开更多
关键词 eutectic solder ball reflow soldering interfacial reaction
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Capillary wave formation on excited solder jet and fabrication of lead-free solder ball 被引量:3
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作者 张曙光 何礼君 +3 位作者 朱学新 张少明 石力开 徐骏 《中国有色金属学会会刊:英文版》 EI CSCD 2005年第5期997-1002,共6页
A survey of solder ball production processes especially focusing on disturbed molten metal jet breakup process was made. Then the formation of capillary wave on tin melt jet in the way of rapid solidification was stud... A survey of solder ball production processes especially focusing on disturbed molten metal jet breakup process was made. Then the formation of capillary wave on tin melt jet in the way of rapid solidification was studied. A semi-empirical formula, which can be written as λ=C_ vib(σ/ρ) 1/3f -2/3 to predict the relationship between wavelength of capillary wave and frequency of imposed vibration was obtained. Sn-4.0Ag-0.5Cu lead free solder ball was successfully produced with tight distribution and good sphericity. The excited jet breakup process is promising for cost effectively producing solder ball. 展开更多
关键词 金属加工 焊接材料 焊接工艺 毛细作用
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Study on solder joint reliability of ceramic ball grid array component based on design of experiment method 被引量:6
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作者 吴兆华 黄春跃 周德俭 《China Welding》 EI CAS 2006年第3期68-73,共6页
Four process parameters, pad diameter, stencil thickness, ball diameter and stand-off were chosen as four control factors. By using an L25 (5^6 ) orthogonal array the ceramic ball grid array ( CBGA ) solder joints... Four process parameters, pad diameter, stencil thickness, ball diameter and stand-off were chosen as four control factors. By using an L25 (5^6 ) orthogonal array the ceramic ball grid array ( CBGA ) solder joints which have 25 different combinations of process parameters were designed. The numerical models of all the 25 CBGA solder joints were developed using the Sugrace Evolver. Utilizing the sugrace coordinate exported from the 25 CBGA solder joints numerical models, the finite element analysis models were set up and the nonlinear finite element analysis of the CBGA solder joints under thermal cycles were pegrormed by ANSYS. The thermal fatigue life of CBGA solder joint was calculated using Coffin-Manson equation. Based on the calculated thermal fatigue life results, the range analysis and the variance analysis were pegrormed. The results show that the fatigue life of CBGA solder joint is affected by the pad diameter, the stencil thickness, the ball diameter and the stand-off in a descending order, the best combination of process parameters results in the longest fatigue life is 0.07 mm stand-off, 0.125 mm stencil thickness of, 0.85 mm ball diameter and 0. 89 mm pad diameter. With 95% confidence the pad diameter has a significant effect on the reliability of CBGA solder joints whereas the stand-off, the stencil thickness and the ball diameter have little effect on the reliability of CBGA solder joints. 展开更多
关键词 design of experiment ceramic ball grid array solder joint process parameters finite element analysis
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陶瓷封装球栅阵列焊点失效机理研究
5
作者 翟芳 孙龙 李伟明 《电子产品可靠性与环境试验》 2024年第5期26-30,共5页
研究了陶瓷封装球栅阵列(CBGA)的焊点在长期使用后开裂的失效机理,提出了改善此类元器件焊点可靠性的有效措施。通过X-ray分析、显微剖切、扫描电镜和能谱分析(SEM&EDS)等手段,研究分析了CBGA封装器件焊点失效的机理与成因;基于失... 研究了陶瓷封装球栅阵列(CBGA)的焊点在长期使用后开裂的失效机理,提出了改善此类元器件焊点可靠性的有效措施。通过X-ray分析、显微剖切、扫描电镜和能谱分析(SEM&EDS)等手段,研究分析了CBGA封装器件焊点失效的机理与成因;基于失效机理,提出了针对性的改善措施,并验证了相关措施的有效性。研究结果表明,由于CBGA器件本体与印制板之间存在较大的热膨胀系数差异,导致焊点在长期使用后出现了热疲劳开裂失效,通过更换焊球类型以增加焊点高度可以显著地改善焊点的可靠性。 展开更多
关键词 陶瓷封装球栅阵列 焊点 失效机理 热疲劳
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PBGA焊点形态对疲劳寿命的影响
6
作者 张威 刘坤鹏 +3 位作者 张沄渲 于沐瀛 王尚 田艳红 《电子与封装》 2024年第8期40-46,共7页
通过Surface Evolver软件预测了塑料球栅阵列(PBGA)焊点形态,将焊点形态结果导入Ansys软件中进行-55~125℃热循环仿真实验,通过Coffin-Masson模型预测焊点寿命。选取焊点钎料量、焊点高度、下焊盘直径作为影响焊点寿命的主要因素进行了... 通过Surface Evolver软件预测了塑料球栅阵列(PBGA)焊点形态,将焊点形态结果导入Ansys软件中进行-55~125℃热循环仿真实验,通过Coffin-Masson模型预测焊点寿命。选取焊点钎料量、焊点高度、下焊盘直径作为影响焊点寿命的主要因素进行了3因素3水平正交实验,通过均值响应分析得到了影响凸点寿命的最敏感因素及最优形态尺寸组合。结果表明对焊点寿命影响最大的因素为下焊盘半径,其次是钎料量,最后是焊点高度,且上下等大的焊盘具有较好的可靠性。 展开更多
关键词 Surface Evolver 塑料球栅阵列 焊点形态预测 热循环 疲劳寿命 封装技术
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新型水基高分子焊锡球表面处理剂及其性能研究
7
作者 王同举 林子彭 +4 位作者 张文倩 雷永平 吴宇庭 刘亚浩 冷启顺 《材料保护》 CAS CSCD 2024年第4期194-200,共7页
为解决焊锡球在长期存放与运输过程中易被氧化的问题,以Sn3.0Ag0.5Cu焊锡球为研究对象,研制出一种新型水基高分子焊锡球表面处理剂,此种表面处理剂是由苯并三氮唑和聚乙烯醇4000作为成膜剂,使用抗坏血酸作为抗氧化剂,并添加少量碱性配... 为解决焊锡球在长期存放与运输过程中易被氧化的问题,以Sn3.0Ag0.5Cu焊锡球为研究对象,研制出一种新型水基高分子焊锡球表面处理剂,此种表面处理剂是由苯并三氮唑和聚乙烯醇4000作为成膜剂,使用抗坏血酸作为抗氧化剂,并添加少量碱性配位剂与表面活性剂制成。表面处理剂处理后对焊锡球进行抗氧化性测试、剪切强度测试、空洞测试以及包覆情况测试与Raman光谱表征,结果表明:经此种表面处理剂处理后的焊锡球焊点剪切强度提高48%;焊锡球焊点空洞率低于4%,符合业内要求(低于15%)。上述结果说明此种表面处理剂处理过后的焊锡球会在表面形成一层致密的抗氧化薄膜,能提高焊球的抗氧化性能。 展开更多
关键词 表面处理剂 Sn3.0Ag0.5Cu 焊锡球 抗氧化性 焊接性能
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Cu核微焊点液-固界面反应及剪切行为研究
8
作者 钱帅丞 陈湜 +1 位作者 乔媛媛 赵宁 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2024年第3期367-373,共7页
相较于传统Sn基焊点,Cu核焊点具备更好的导热性、导电性及力学性能。为揭示尺寸效应对Cu核焊点界面反应及剪切强度的影响,制备了不同Sn镀层厚度的Cu核焊点(Cu@Ni-Sn/Cu)。观察回流不同时间后Cu核微焊点横截面微观组织,研究了Cu核微焊点... 相较于传统Sn基焊点,Cu核焊点具备更好的导热性、导电性及力学性能。为揭示尺寸效应对Cu核焊点界面反应及剪切强度的影响,制备了不同Sn镀层厚度的Cu核焊点(Cu@Ni-Sn/Cu)。观察回流不同时间后Cu核微焊点横截面微观组织,研究了Cu核微焊点在尺寸效应下的液-固界面反应。之后对Cu核微焊点进行剪切测试,结合断口形貌,分析断裂机理。界面反应结果表明:Cu@Ni-Sn/Cu焊点在250℃回流时,Sn/Ni界面生成Ni含量较高的针状(Cu,Ni)_(6)Sn_(5)IMC,Sn/Cu界面生成Ni含量较低的层状(Cu,Ni)_(6)Sn_(5)IMC。剪切测试结果表明:随着Sn镀层厚度增加,Cu@Ni-Sn/Cu焊点的剪切强度先增大后减小。基于Sn镀层厚度对界面(Cu,Ni)_(6)Sn_(5)IMC层体积的直接影响,Sn层厚度的增加提升了焊点剪切强度。然而Cu@Ni-Sn(60μm)/Cu焊点中Cu核位置的偏移,造成剪切强度略有降低。 展开更多
关键词 电子封装 Cu核焊球 液-固界面反应 金属间化合物 剪切强度
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激光锡球软钎焊工艺参数对微焊点形态及润湿性的影响
9
作者 刘标 李先芬 +4 位作者 柴旭东 蔡楷 蒙永民 华鹏 徐政 《焊管》 2024年第6期22-27,共6页
为了探索激光锡球焊工艺参数对微焊点形貌的影响,采用激光锡球焊将直径0.25 mm的SAC305锡球在沉镍金焊盘上制备微焊点,并分析了微焊点的形貌及SAC305/焊盘界面的润湿性。结果表明,激光功率27 W、加热时间8 ms为最佳工艺参数,采用此工艺... 为了探索激光锡球焊工艺参数对微焊点形貌的影响,采用激光锡球焊将直径0.25 mm的SAC305锡球在沉镍金焊盘上制备微焊点,并分析了微焊点的形貌及SAC305/焊盘界面的润湿性。结果表明,激光功率27 W、加热时间8 ms为最佳工艺参数,采用此工艺参数制备的微焊点均匀铺展在焊盘上,无缺陷;微焊点高度与激光功率、加热时间均呈负相关,微焊点铺展直径与激光功率、加热时间均呈正相关;SAC305/焊盘界面平整,喷出的SAC305锡球/镀Ni的Cu焊盘界面润湿性良好。 展开更多
关键词 激光锡球焊 SAC305锡球 激光功率 加热时间 焊点形态
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环境应力影响下球栅阵列封装焊球仿真分析与力学性能研究
10
作者 祁立鑫 朱冠政 +2 位作者 陈光耀 卞康来 边统帅 《轻工机械》 CAS 2024年第2期37-43,49,共8页
高密度、高性能集成电路主要封装技术采用球栅阵列封装(ball grid array,BGA),其高密度Sn-Pb焊球在极端高、低温及湿热环境的影响下可靠性无法保证。为解决温度变化产生的热膨胀问题,笔者通过有限元仿真计算BGA电路中焊球在高、低温交... 高密度、高性能集成电路主要封装技术采用球栅阵列封装(ball grid array,BGA),其高密度Sn-Pb焊球在极端高、低温及湿热环境的影响下可靠性无法保证。为解决温度变化产生的热膨胀问题,笔者通过有限元仿真计算BGA电路中焊球在高、低温交替循环应力下瞬态黏塑性应变范围,并采用改进的Coffin-Manson经验方程计算器件在温度循环试验下的热疲劳寿命;此外,进一步采用准静态剪切和拉脱试验分析分别经过温度循环及高压蒸煮环境试验后焊球的力学性能,同时采用扫描电子显微镜(scanning electron microscopy,SEM)和能谱分析仪(energy dispersive spectroscopy,EDS)对焊球切面进行分析。研究表明:焊球在温度循环试验下具有较长的疲劳寿命,在不考虑焊球导电与连接性能的前提下,适当环境应力的影响可促使焊球与焊盘界面区域金属间化合物的生成,有效增强了焊球的剪切力学性能。 展开更多
关键词 球栅阵列封装 Sn-Pb焊球 Coffin-Manson经验方程 热疲劳寿命 准静态剪切
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激光植球工艺参数的有限元分析
11
作者 李志豪 陈晖 +2 位作者 万易 姜廷宇 陈澄 《电子产品可靠性与环境试验》 2024年第2期89-94,共6页
激光植球工艺作为一种新型工艺,广泛地应用于机械、航天和船舶等领域。然而,由于焊接质量不稳定和焊点一致性差等原因,还需不断地调整工艺参数、改进工艺方法。采用有限元法对焊球模型施加旋转高斯体热源,进行瞬态热分析和静力学分析,... 激光植球工艺作为一种新型工艺,广泛地应用于机械、航天和船舶等领域。然而,由于焊接质量不稳定和焊点一致性差等原因,还需不断地调整工艺参数、改进工艺方法。采用有限元法对焊球模型施加旋转高斯体热源,进行瞬态热分析和静力学分析,研究激光植球过程中激光高度、功率和作用时间对Sn63Pb37焊球在Au/Ni/Cu焊盘的焊点可靠性的影响。通过正交试验简化试验流程,并引入信噪比分析试验数据。结果表明,激光作用时间对焊点温度场与应力场的影响最为显著。同时,还得到3种因素的最佳设计方案。期望对激光植球工艺的改进与优化提供一定的理论支撑。 展开更多
关键词 球栅阵列封装 激光植球 有限元法 热源模型 应力场
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染色与渗透试验在BGA焊点质量分析中的应用
12
作者 高蕊 刘立国 +1 位作者 董丽玲 张永华 《印制电路信息》 2024年第2期32-37,共6页
在高密度组装焊点的质量评价中,染色与渗透试验不仅简单高效、易于操作,且反馈信息最为全面。基于标准测试方法,阐述了染色与渗透试验的基本原理及操作方法,并基于失效模式典型案例分析的方式,系统研究了染色与渗透试验中球栅阵列封装(B... 在高密度组装焊点的质量评价中,染色与渗透试验不仅简单高效、易于操作,且反馈信息最为全面。基于标准测试方法,阐述了染色与渗透试验的基本原理及操作方法,并基于失效模式典型案例分析的方式,系统研究了染色与渗透试验中球栅阵列封装(BGA)焊点常见质量缺陷的具体表现形式及其产生机理,以期为可靠性分析工程师在实际测试中提供技术参考。 展开更多
关键词 染色与渗透试验 球栅阵列封装(BGA)焊接质量 焊点开裂
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BGA焊点微裂纹缺陷检测研究
13
作者 牛浩浩 张祎彤 陈奎 《印制电路信息》 2024年第4期49-52,共4页
球栅阵列封装(BGA)元器件的焊点隐藏于IC芯片底部,经电装后仅边缘焊点可见,因此检验其焊接质量是行业普遍的难题。探讨了BGA焊点微裂纹缺陷的产生机理和裂纹分布,设计了基于计算机分层层析成像(CL)技术的BGA焊点微裂纹缺陷检测方法和检... 球栅阵列封装(BGA)元器件的焊点隐藏于IC芯片底部,经电装后仅边缘焊点可见,因此检验其焊接质量是行业普遍的难题。探讨了BGA焊点微裂纹缺陷的产生机理和裂纹分布,设计了基于计算机分层层析成像(CL)技术的BGA焊点微裂纹缺陷检测方法和检测流程。经实测证明,该测试方法可以兼顾检测质量和效率,具有工程应用的可行性,可为BGA焊点检验人员提供参考。 展开更多
关键词 BGA焊点 微裂纹 缺陷检测 CL技术
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球珊阵列(BGA)封装的芯片植球过程影响性分析
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作者 陈雨柔 曹德 +2 位作者 杨宇通 何若华 王东 《仪器仪表用户》 2024年第1期36-38,41,共4页
球珊阵列封装(BGA封装)是将裸芯片安装在不同材料的多层基板载体顶部表面形成的,根据基板材料的不同主要分为塑封BGA(PBGA)和陶瓷BGA(CBGA)。本文主要就这两种封装类型,研究植球过程对BGA封装器件本体的影响。
关键词 BGA 植球 焊接 封装
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金丝球键合第二焊点的加固工艺与可靠性研究
15
作者 骞涤 《电子与封装》 2024年第10期9-14,共6页
在厚膜电路中,金丝球键合的第二焊点键合区通常由厚膜金层、铝过渡片、镀镍引线组成。键合区材料的粗糙度、缺陷尺寸及硬度等方面存在差异,对键合设备的输出精度、劈刀形貌和键合参数提出了更高要求。第二焊点采用楔形鱼尾焊工艺,容易... 在厚膜电路中,金丝球键合的第二焊点键合区通常由厚膜金层、铝过渡片、镀镍引线组成。键合区材料的粗糙度、缺陷尺寸及硬度等方面存在差异,对键合设备的输出精度、劈刀形貌和键合参数提出了更高要求。第二焊点采用楔形鱼尾焊工艺,容易存在脱焊、拉力强度不足的问题。因此,采用键合球在焊线上(BBOS)、补短线等工艺加固第二焊点。通过静力学分析、随机振动分析等有限元仿真方法,结合可靠性实验对不同工艺条件下的第二焊点进行分析对比,结果表明,BBOS工艺是最优选择。 展开更多
关键词 封装技术 金丝球键合 第二焊点 BBOS工艺
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Plastic characterization and performance of SnAgCuBiNi/Cu lead-free BGA solder joints
16
作者 杨淼森 孙凤莲 孔祥霞料 《China Welding》 EI CAS 2015年第3期18-23,共6页
Nanoindentation test is performed on study the plastic and creep properties of the Sn-Ag-Cu (SAC) lead-free ball grid array ( BGA ) solder joints. The dynamic hardness of two kinds of solder joints decreases with ... Nanoindentation test is performed on study the plastic and creep properties of the Sn-Ag-Cu (SAC) lead-free ball grid array ( BGA ) solder joints. The dynamic hardness of two kinds of solder joints decreases with indentation depth increase. SACO705 BiNi/ Cu exhibits a higher ultimate dynamic hardness and a smaller indentation depth than SAC305/ Cu. Then the strain hardening phenomenon of SAC305/ Cu is more obvious compared to that of SACO705 BiNi/ Cu. The indentation creep of SACO705BiNi/ Cu solder joint is lower than that of SAC305/ Cu solder joint before and after thermal shock. The creep rate sensitive index of SACBiNi/Cu solder joint is lower than that of solder joint. SACO705BiNi/Cu solder joint is superior to SAC305/Cu solder joint in the anti-creep property. The plasticity of SACOTOSBiNi/Cu and SAC305/Cu solder joints are similar. Compared with SAC305 solder, the SACO705 BiNi solder pe^forms higher hardness and solder creep resistance and still maintains a good plasticity. 展开更多
关键词 ball grid array solder joint creep resistance PLASTICITY NANOINDENTATION
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激光喷射锡球焊接焊点可靠性分析
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作者 杨兆军 李森 +2 位作者 李苗 邹嘉佳 宋惠东 《电子工艺技术》 2023年第1期26-29,共4页
激光喷射锡球焊接(LJSBB)具有精度高、热影响区域小、稳定性好等优点。通过随机振动和温度循环等可靠性试验,对射频连接器电性能和焊点微观组织变化的影响进行研究,并将其与手工焊点进行对比分析。采用体式显微镜对焊点外观进行观察,利... 激光喷射锡球焊接(LJSBB)具有精度高、热影响区域小、稳定性好等优点。通过随机振动和温度循环等可靠性试验,对射频连接器电性能和焊点微观组织变化的影响进行研究,并将其与手工焊点进行对比分析。采用体式显微镜对焊点外观进行观察,利用SEM和EDX对焊点IMC层进行分析。结果表明:通过调节激光输出能量和时间、光斑尺寸等工艺参数,可获得外观合格的焊点;LJSBB焊点处IMC层均匀连续;大量级随机振动(13.88g)和200次温度循环(-55~100℃)试验后电性能满足产品指标要求,焊点无开裂等缺陷;与手工焊相比,LJSBB焊点IMC层除Cu-Sn化合物外,还有少量Au-Sn化合物。 展开更多
关键词 激光喷射锡球焊接 射频连接器 可靠性试验 IMC
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响应面法分析SAC305焊球激光焊接参数对润湿角的影响 被引量:2
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作者 李通 潘开林 +2 位作者 李鹏 檀正东 蔡云峰 《半导体技术》 CAS 北大核心 2023年第2期163-169,共7页
基于响应面法分析了激光植球焊接工艺参数对SAC305焊料润湿性的影响。设计单因素试验并进行植球焊接,分析激光功率、加热时间和氮气压强对焊点润湿角的影响规律。进一步设计响应面法试验,建立回归方程预测模型,并对焊接工艺参数进行优... 基于响应面法分析了激光植球焊接工艺参数对SAC305焊料润湿性的影响。设计单因素试验并进行植球焊接,分析激光功率、加热时间和氮气压强对焊点润湿角的影响规律。进一步设计响应面法试验,建立回归方程预测模型,并对焊接工艺参数进行优化。结果表明:随着激光功率、加热时间和氮气压强增大,焊点润湿角逐渐减小,三者对焊点润湿角影响大小排序为:激光功率>加热时间>氮气压强;直径600μm焊球的响应面法优化工艺参数为激光功率84.27%,加热时间0.064 s,氮气压强1089.48 Pa,焊点润湿角为31.032°,焊点润湿铺展良好。经实验验证,响应面法预测值与实测值相近,可为优化激光植球焊接工艺参数提供参考。 展开更多
关键词 响应面法 激光植球焊接 SAC305焊料 润湿角 单因素试验
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基于SAC305焊料的红外激光植球功率和时间对焊点形态的影响 被引量:1
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作者 李通 潘开林 +2 位作者 李鹏 檀正东 蔡云峰 《半导体技术》 CAS 北大核心 2023年第3期247-254,共8页
为了探究工艺参数对激光植球焊点形态的影响,采用激光器波长为1064 nm的激光植球设备对直径0.6 mm的SAC305焊球在覆铜板上进行植球。基于单因素实验法,通过红外测温系统对激光植球熔池温度进行测量,使用3D轮廓测量仪对焊点圆度、铺展直... 为了探究工艺参数对激光植球焊点形态的影响,采用激光器波长为1064 nm的激光植球设备对直径0.6 mm的SAC305焊球在覆铜板上进行植球。基于单因素实验法,通过红外测温系统对激光植球熔池温度进行测量,使用3D轮廓测量仪对焊点圆度、铺展直径、焊点高度、小孔直径和小孔深度等参数进行测量。研究了激光功率和加热时间对焊点参数的影响。结果表明,熔池温度在保温区出现先升高后降低的趋势;随着加热时间的增加,冷却区熔池的冷却速率逐渐降低;激光功率的增加使得熔池温度的升温速率增加且冷却区起始温度升高。随着加热时间和激光功率的增加焊点铺展直径和小孔直径相应增大,焊点高度逐渐降低;随着加热时间的增加小孔深度呈现先增大后减小的趋势;随着激光功率增加小孔深度逐渐增大。该研究结果可为植球工艺参数的选择提供参考。 展开更多
关键词 激光植球 熔池温度 圆度 铺展直径 焊点高度 小孔直径 小孔深度
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堆叠封装中不同直径铅锡焊球的剪切性能 被引量:1
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作者 郭凯宇 冉红雷 王珺 《半导体技术》 CAS 北大核心 2023年第2期157-162,176,共7页
铅锡(63Sn37Pb)焊球由于其优异的热机械性能,目前仍普遍应用于航天等领域。随着高集成度三维(3D)堆叠封装的广泛应用,焊球的剪切性能成为影响封装器件可靠性的关键因素。通过焊球剪切试验以及失效分析,结合焊球剪切试验有限元模拟,研究... 铅锡(63Sn37Pb)焊球由于其优异的热机械性能,目前仍普遍应用于航天等领域。随着高集成度三维(3D)堆叠封装的广泛应用,焊球的剪切性能成为影响封装器件可靠性的关键因素。通过焊球剪切试验以及失效分析,结合焊球剪切试验有限元模拟,研究了单个铅锡焊球的剪切性能,对比分析了焊球的弹塑性模型和Anand粘塑性模型,在仿真分析中考虑了温度对剪切曲线的影响。研究结果表明,焊球剪切强度随焊球直径的增加而减小,随剪切速率的升高和剪切高度的降低而增大;焊球剪切后的失效模式主要表现为焊料断裂;Anand粘塑性模型比弹塑性模型更接近试验结果。该研究结果可为3D堆叠封装中铅锡焊球设计和有限元模型选择提供有益参考。 展开更多
关键词 铅锡焊球 失效分析 剪切试验 有限元分析 弹塑性模型 粘塑性模型
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