-
题名边界扫描结构的设计及仿真
被引量:3
- 1
-
-
作者
罗涛
林明
邱卫东
-
机构
江苏科技大学
南京理工湛世顺电子工程技术有限公司
-
出处
《科学技术与工程》
2011年第2期261-265,共5页
-
文摘
在集成电路高速发展的今天,许多传统形式的测试技术受到越来越多的挑战。就测试技术本身而言,其作用和地位不再是集成电路生产的末端环节,而是作为一种前端环节对整个系统的设计都有着至关重要的作用,这就要求工程师在电路板设计之初就必须考虑后期的测试问题,即可测试性设计。边界扫描作为一种结构化的DFT技术,它的出现为集成电路板板级测试提供了一个更加先进和便捷的策略。剖析了支持边界扫描标准的芯片结构,并通过VHDL语言对其进行建模,完成边界扫描结构的软核设计及仿真。
-
关键词
边界扫描
仿真
IEEE
std1149.1
VHDL
DFT
-
Keywords
boundary scan stimulation IEEE Std 1149.1 VHDL DFT
-
分类号
TP331.11
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
-
-
题名嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500综述
被引量:14
- 2
-
-
作者
杨鹏
邱静
刘冠军
-
机构
国防科技大学机电工程与自动化学院
-
出处
《测控技术》
CSCD
2006年第8期40-43,共4页
-
文摘
介绍了IEEE 1500标准制定的历程和背景、SoC测试面临的重大挑战及该标准所要解决的问题、IEEE 1500标准的基本结构和使用方法,最后对该标准的未来提出展望。
-
关键词
片上系统
芯核
IEEE
1500标准
边界扫描标准
核测试语言标准
-
Keywords
SoC
IP core
IEEE Std 1500
JTAG( IEEE std1149.1)
CTL( IEEE Std 1450.6)
-
分类号
TP206
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
-