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膛内多路瞬态信号存储测试技术 被引量:16
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作者 何瑛 朱明武 李永新 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第z2期134-136,共3页
本文设计了满足于恶劣环境下多路瞬态信号测试的存储测试系统。并重点介绍测试系统中可编程多通道数采系统控制器(用 Altera公司 EPL D器件具体实现 )。用非易失性 NVSRAM—ZS6 4来存取多参数测试信号 ,研制了适于测试膛内气体压力单元 ... 本文设计了满足于恶劣环境下多路瞬态信号测试的存储测试系统。并重点介绍测试系统中可编程多通道数采系统控制器(用 Altera公司 EPL D器件具体实现 )。用非易失性 NVSRAM—ZS6 4来存取多参数测试信号 ,研制了适于测试膛内气体压力单元 ,加速度单元和 IT应力三个物理参量进行测试的测试系统。 展开更多
关键词 存储测试 nvsram 接口
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存储测试系统的USB接口设计 被引量:4
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作者 王代华 宋林丽 张志杰 《现代电子技术》 2012年第11期133-135,共3页
针对存储测试系统的高速数据传输需求,设计了以单片机和FT245R为核心器件的USB接口电路,替代了传统的并行/串行接口。设计的USB接口支持USB 2.0协议,具有体积小、通用性好、操作简单、使用方便等特点,数据传输率达到1MB/s,满足了存储测... 针对存储测试系统的高速数据传输需求,设计了以单片机和FT245R为核心器件的USB接口电路,替代了传统的并行/串行接口。设计的USB接口支持USB 2.0协议,具有体积小、通用性好、操作简单、使用方便等特点,数据传输率达到1MB/s,满足了存储测试系统的数据传输率要求。 展开更多
关键词 USB 存储测试技术 FT245R 接口
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