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Tet-on控制的Luciferase和SupF突变报告基因质粒的构建及其在顺铂致突变作用中的应用研究
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作者 李劲 宋波 +2 位作者 杨劲 陈志文 位全芳 《第三军医大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2008年第11期1021-1024,共4页
目的研究TCR在顺铂导致的细胞内DNA损伤和突变过程中的分子机制,并为进一步研究转录偶联修复与突变发生的分子机制提供重要分子生物学依据。方法首先将SupF突变报告基因克隆到带有双向真核启动子的含有Tet调控元件TRE的表达载体pBI-L的... 目的研究TCR在顺铂导致的细胞内DNA损伤和突变过程中的分子机制,并为进一步研究转录偶联修复与突变发生的分子机制提供重要分子生物学依据。方法首先将SupF突变报告基因克隆到带有双向真核启动子的含有Tet调控元件TRE的表达载体pBI-L的多克隆位点(MCS)上,获得pTCR-1,再将SV40ori元件插入pTCR-1载体,最终获得pTCR-2质粒。酶切和DNA测序证实后,用顺铂将pTCR-2进行体外DNA损伤后瞬时转染至Tet-on293细胞,在Dox诱导下培养48h,从细胞内提取质粒,纯化后转化SY204菌株,蓝白斑筛选挑取白色突变斑,计算突变频率并进行DNA测序检测突变频谱。结果经酶切鉴定和测序分析,插入片段长度和序列正确。在Dox诱导下取得了SupF报告基因在转录偶联修复途径中的突变频率与频谱。结论重组的pTCR-2质粒具有在真核细胞中Tet启动的转录活性,应用于顺铂致突变研究中,使转录条件下的突变情况能够得以反映。 展开更多
关键词 Tet-on控制系统 质粒 转录 supf突变报告基因 Luciferase基因 顺铂 突变频率 突变频谱
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Transcription-coupled repair pathway in UVC-induced SupF gene mutation in Tet-on 293 cell line
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作者 Li Jin Song Bo +4 位作者 Chen Zhiwen Zeng Yijun Zhou Huchuan Wei Quanfang Yang Jin 《Journal of Medical Colleges of PLA(China)》 CAS 2008年第2期76-80,共5页
Objective: To explore the role of transcription-coupled repair (TCR) pathway in the UVC-induced SupF gene mutation in Tet-on 293 cell line, we designed and constructed a Tet-responsive plasmid DNA pTCR-C1, and util... Objective: To explore the role of transcription-coupled repair (TCR) pathway in the UVC-induced SupF gene mutation in Tet-on 293 cell line, we designed and constructed a Tet-responsive plasmid DNA pTCR-C1, and utilized this pTCR-C 1 plasmid to obtain the mutation frequency of SupF reporter gene induced by UVC in Tet-on 293 cell line. Methods: SupF gene was cloned into a Tet-responsive plamid pBI-L, which include a bidirectional Tet-responsive promoter, and was named pTCR-C1. The pTCR-C1 plasmid was transfected into Tet-on 293 cell line, and the mutation frequency of SupF reporter gene was detected in the presence and absence of DOX. Results: The pTCR-C1 plasmid was identified with the methods of restriction digestion and DNA sequencing. The mutation frequency of SupF reporter gene in the presence of DOX was higher than in the absence of DOX. Conclusion: The TCR pathway takes part in the UVC-induced SupF gene mutation in Tet-on 293 cell line. 展开更多
关键词 Transcription-coupled repair supf gene TET-ON Mutation frequency
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DNA加合物位点特异性与突变关系的研究进展 被引量:2
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作者 奉水东 张洪霞 +1 位作者 徐顷清 唐菲 《中国公共卫生》 CAS CSCD 北大核心 2004年第5期619-620,共2页
关键词 DNA加合物位点 特异性 基因突变 遗传物质 supf基因
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