数字T/R组件的自动测试系统设计与实现

数字T/R组件是数字阵列系统的重要组成部分,针对数字T/R组件测试指标复杂、数据处理繁多等测试需求,设计开发了一种自动测试系统。该系统通过GPIB总线控制测试仪器,通过网口控制光纤采集板实现T/R组件指标的全自动测试。介绍了测试系统的硬件设计,软件功能开发,系统校验与指标测试。该测试系统在实际应用中缩短了测试时间,有效提高了研制生产效率。

车载系统T/R组件强化试验技术应用

本文介绍了强化试验剖面的确定原则,结合车载系统T/R组件的特点制定了车载系统T/R组件强化试验方案并实施,有效析出车载系统T/R组件设计、工艺以及所用器件材料的缺陷并加以整改,提高了车载系统T/R组件的设计裕度及可靠性。

T/R组件电老练测试系统设计

T/R组件电老练测试系统主要用于T/R组件的研制和生产。针对T/R组件电老练测试过程中工作量大、耗时长的问题,提出了一种可批量电老练的组合式T/R组件电老练测试系统解决方案,对电老练测试系统进行了开发验证。设备为组合机柜式结构,功能上分为电老练单元区、电源仪表区和人机交互区,可实现T/R组件在预设条件(供电、射频、脉冲和温度等)下规定时长的电老练测试。测试软件是基于自适应调节控制算法的并行测试技术实现电老练自动测试管理,并基于IVI技术进行仪器仪表的控制接口封装,实现24通道T/R组件产品老练过程中的实时数据采集、处理、显示、存储功能。系统采用模块化结构,可根据需要灵活配置;软件平台界面接口丰富、开放程度高,具备良好的维护性和拓展性。实际应用表明此系统满足T/R组件电老练测试各项指标要求;与传统方法相比,自动化程度高,能够较大程度地提高T/R组件电老练测试效率,具备较强的实用性。

基于陶瓷基板微系统T/R组件的焊接技术研究

陶瓷基板微系统T/R组件具有体积小、密度高、轻量化等特点,正在逐步取代传统微组装砖式T/R组件。在微系统封装新技术路线的引领下,T/R组件对于微电子焊接技术的需求发生了较大变化。针对基于陶瓷基板微系统T/R组件的微电子焊接技术展开了论述,重点阐述了新技术路线与传统技术路线对于技术需求的差异,对围框钎焊、焊球/焊柱钎焊、基板与器件钎焊、高密度键合及盖板气密封焊等关键技术进行了介绍,归纳并总结了近年来相关技术领域的研究现状,并给出了现有技术水平条件下满足高可靠、低成本封装需求的最优工艺方法,为微电子焊接技术的发展提供了参考。

毫米波双极化T/R组件与天线一体化设计

介绍了一种毫米波双极化T/R组件集成微带天线的设计思路和实现方法。采用绝缘子代替传统射频同轴连接器装配,减小导引头轴向长度,实现毫米波导引头低成本、高集成设计;接口尺寸缩小可扩大利用空间,实现多通道隔腔的优化设计,进而解决了2路可同时工作接收通道的隔离问题;提出16针超小型同轴连接器盲插半擒纵浮动测试方法,提高产品测试效率。

T/R组件性能退化试验系统设计与实现

T/R组件是有源相控阵雷达装备的重要部件,其性能变化严重影响雷达技术、战术指标,通过试验系统进行T/R组件性能退化试验是分析T/R组件性能变化的重要途径。在分析T/R组件性能退化试验流程基础上,设计了T/R组件性能退化试验系统结构;设计了试验系统平台,解决了多个T/R组件自动测试与开关级联切换下的噪声系数测量问题;设计了自动测试软件,实现了T/R组件性能参数的自动测试、测量结果的自动存储。基于此试验系统,进行了某型T/R组件的性能退化试验,结果表明该试验系统能够自动完成多个T/R组件性能参数的自动测试,提高了测试效率,为T/R组件和有源相控阵雷达的性能分析提供了试验平台。

有源相控阵天线T/R组件幅相检测

给出一种有源相控阵雷达Ｔ／Ｒ组件的幅相检测方法。这种方法只需几只定向耦合器和检波器，经过适当的组合和简单的运算，就可以精确地测出Ｔ／Ｒ组件的幅度和相位。该方法具有良好的可行性、实时性和可靠性，大大减少了雷达的调试工作量。

基于LabWindows/CVI的T/R模块自动化测试与数据分析软件设计

作为相控阵天线的关键组件,T/R模块的通道数多、需测试的技术指标多、测试工作量和测量数据分析工作量巨大,开发专用的T/R模块自动化测试与数据分析软件,以提高测试和测量数据分析效率。本文利用LabWindows/CVI开发了T/R模块自动化测试和数据分析软件,实现对T/R模块的通信与控制、多种标准测量仪器的控制与数据采集、数据的格式化存储、数据分析、硬件排故等功能。T/R模块自动化测试与数据分析软件的应用,能极大提高产品的测试、数据分析和交付效率。

雷达数字T/R组件自动测试系统设计

数字T/R组件是数字有源相控阵雷达的核心,各种参数的自动化测试至关重要,文中介绍了一种雷达数字T/R组件性能参数自动测试系统,包括设备组成、软件设计、测试方法和流程等,可自动测试数字T/R组件各类参数。该系统已用于多部数字有源相控阵雷达的调试,大大缩短了雷达系统的调试周期,完善雷达性能测试技术。

基于改进GM(1,1)模型的T/R组件故障率预测

针对传统灰色模型GM(1,1)在实际应用中出现的问题,首先对原模型的基础上进行了改进,建立了离散灰色模型;然后,引入优化因子对背景值进行了优化,并增加了预测模型的线性形式,提出了线性回归的改进离散灰色模型;最后,通过实例进行了仿真和模型对比分析。结果表明:文中所提出的方法具有更高的精度且求解简便,适用范围更广。

基于多分类支持向量机的相控阵雷达T/R组件寿命分布仿真识别

为了能够对T/R组件的寿命分布类型进行快速准确地识别,在充分分析T/R组件寿命分布数据特点的基础上,建立了核主元降维-多分类支持向量机识别模型。首先对T/R组件的数据特征以及可能的分布模式进行选取,其次利用Matlab仿真软件产生100组不同分布的随机数,构建了模型的初始训练样本,最后利用核主元降维分析法的非线性主元特征提取能力以及多分类支持向量机模型的高精度识别能力,对T/R组件的寿命分布类型进行识别。实例计算表明,该识别模型具有较高的识别精度,与传统极大似然估计和k-s检验法的T/R组件寿命分布结果一致,从而证实了模型的正确性,为后续T/R组件的维修提供理论依据。

T/R组件自动测试系统

T/R组件是相控阵雷达的关键部分,T/R组件的性能会对整个雷达系统的性能有直接的影响。本文描述了T/R组件自动测试系统的组成和功能;简单介绍了T/R组件测试方法;阐述基于VB的自动测试系统硬件和软件的设计。通过实际示例说明如何实现仪器程控、控制信号的产生和测试数据的处理。

飞针测试在数字T/R组件检测中的应用

数字T/R组件具有品种多、数量大和集成度高等特点,如何高效和精准地完成数字T/R组件检测,是批生产过程中必须解决的问题。飞针测试具有测试开发高效、测试精度高和测试成本较低等优点,使之成为数字T/R组件检测的解决办法。针对数字阵列雷达中T/R组件检测的难点,介绍了飞针测试技术的原理及功能,结合典型产品阐述了飞针测试在某型数字T/R组件检测中的应用。飞针测试技术的使用显著提升了元件检测覆盖率,缩短测试开发和运行时间,在数字T/R组件批生产检测中具有重要应用。

一种通用数字T/R组件自动测试系统

介绍了一种通用数字T/R组件自动测试系统。根据不同的T/R组件测试要求,灵活开发相应的测试方法,合理配置可程控测量仪器。利用PCIe波控及数据采集板卡与组件通讯、LAN接口实现PC机与可编程仪器之间的通讯,获取被测件测试数据,并对测试数据进行数据处理并形成测试报表。

数字T/R多组件并行测试系统的设计

本文阐述了数字T/R组件的基本工作原理,在原有单组件测试系统基础上,提出一种改进的数字T/R组件并行测试方案,通过共享或增加部分关键仪表资源、软件多线程测试等方式实现多个组件的同时测试,并搭建了某型数字T/R组件双组件并行测试系统,使测试效率得到大幅提升,提升了仪表资源的利用率。

数字T/R组件自动化测试系统设计方法

针对某种数字T/R组件的批量测试需求,提出了一种自动化测试系统的设计方法,简要介绍了其设计原理和组成,并综合考虑测量精度和工作效率的因素,设计了较灵活的校准策略及测试方式。设计的测试系统已用于组件的调测,大大缩短了组件的调测周期,有效提高了组件的调测效率。

T/R组件自动测试技术研究

系统论述了T/R组件自动测试系统的各项组成及原理 ,包括脉冲矢量测试系统原理及连续波矢量网络分析仪实现高功率脉冲测试的原理。介绍了测试装置。

T/R组件通用自动化测试平台的设计

设计了一款T/R组件通用自动化测试平台。该平台主要由系统管理、资源管理、测试程序开发、测试程序执行和数据管理等5个模块组成,可实现T/R组件以及一般微波射频设备的自动测试,并支持测试数据的管理和报表输出。

一种X波段瓦片式T/R组件的设计与实现

应用GeSi幅相多功能芯片、GaN多功能芯片,设计制作了一种X波段双通道瓦片式T/R组件,组件工作频率为8.5~10.5GHz。组件采用BGA(Ball Grid Array)球的三维高密度集成技术使微波多层基板之间实现了三维垂直互联。充分考虑腔体效应、芯片的级间匹配问题,利用芯片的S参数、三维垂直互联模型,应用仿真软件对T/R组件进行了仿真。采用SMT工艺、MCM工艺,合理设置温度梯度,对组件进行了装配、测试,测试结果与仿真数据有较好的拟合。接收支路噪声系数小于3.5dB,接收增益大于27.5dB,发射支路的输出脉冲功率大于32.5dBm,T/R组件6位移相、6位衰减,移相均方根误差小于3.4°,衰减幅度均方根误差小于0.8dB。组件尺寸为30mm×20mm×2.5mm(微波传输方向20mm)。

T/R组件的路-场协同仿真模型研究

T/R组件因其内部电路密度高,电磁能量分布复杂,常因腔体内电磁干扰与泄露出现收发异常等问题,导致无法正常工作。传统的有源电路仿真难以模拟腔内电磁能量对T/R组件的影响,致使其仿真结果与实际性能相差甚远。本文采用有限元算法,使用无源3D结构的电磁建模技术建立T/R组件基于物理原型的3D模型和电磁3D模型,获得T/R组件腔体内部的电磁场强分布数据文件;根据仿真输入资料并结合无源3D结构S参数模型,结合有源电路系统模型,建立有源-无源3D电路/结构的路-场协同仿真模型,获得考虑实际电磁特性的T/R组件的微波电路系统指标数据。实际测试表明,路-场协同仿真结果相比传统有源电路仿真结果更接近实际测试结果,能够更加准确的反应腔体内部电磁能量对T/R组件的影响,对T/R组件的设计与生产起到参考和指导作用。