T/R组件移相置位时间测试方法及实现

本文结合某型T/R组件移相置位时间的测试需求,从测试系统搭建和开关网络定制两方面阐述了相应测试方法,主要涉及相位跳变的转换产生及捕捉。实践证明方法可行有效,可以在T/R组件及微波部件测试系统中进行推广应用。

无K_(1,r)图中的哈密顿圈(英文)

本文借助于对图的本质独立集和图的部分平方图的独立集的研究,对无K1,r图中哈密顿圈的存在性给出了八个充分条件.我们将利用T-插点技术对这八个充分条件给出统一的证明.本文的结果从本质上改进了C-Q.Zhang于1988年利用次形条件给出的k-连通无爪图是哈密顿图的次型充分条件;同时,G.Chen和R.H.Schelp在1995年利用次型条件给出的关于k-连通无K1、4图是哈密顿图的充分条件也被我们的结果改进并推广到无K1,r图.

硅整流高压直流电源小负载电流下火花的检测与控制

提出了一种电路设计方案,通过仿真与实际使用,实现了硅整流高压直流电源小电流情况下的火花检测与控制,效果良好,同时对正常电流下火花的检测也有很好的借鉴意义。