基于T861测试系统的皮安级漏电流测试方法

目前模拟开关的漏电流已达到皮安级,而传统的模拟集成电路测试系统的最小测量精度一般为纳安级,无法满足测试要求。研究了基于宏邦T861数模混合集成电路测试系统的皮安级漏电流测试方法。以ADG436型模拟开关电路为例,利用I-V转换方法设计了基于T861测试系统的漏电流测试方案,实现了基于测试系统对模拟开关皮安级漏电流进行测试。与使用安捷伦B1500A对ADG436电路的漏电流测试结果进行了对比,两者一致性较好。实验结果表明,基于T861测试系统的I-V转换方法测试模拟开关的漏电流具有较高的测量精度,能够满足ADG436型模拟开关的皮安级漏电流测试需求。

一种高精度集成运放电路的测试方法研究

集成运放的输入失调电压与输入失调电流对其性能有着较为重要的影响。传统的模拟测试设备配备的运放环路板卡由于板卡费用较为昂贵且内部器件已固定,在多种器件的测试实现上有局限性。为实现运放环路板卡的多种机台适用性和降低测试成本,研究了基于T861测试系统的高精度集成运放电路的测试方法。以LF41X型集成运放电路为例,利用外围辅助运放方法设计了基于T861测试系统的集成运放测试方案,实现了集成运放输入失调电压与输入失调电流的测试方案。通过使用JC5600机台自带的运放环路板和基于T861测试的运放环路板分别对LF41X电路的输入失调电压参数和输入失调电流参数进行测试并将其实测值进行对比,两者结果一致性较好。实验结果表明基于T861测试机台的辅助运放测试方法测试集成运放输入失调电压与输入失调电流的方案具有较高的测量精度,能够满足LF41X电路的相应参数测试需求。