TATB造型颗粒模压结构演变的X射线层析成像

利用X射线层析成像技术结合内置变形材料的形变特征,研究了TATB造型颗粒压制过程中颗粒变形和结构演变。CT图像显示：中部颗粒主要发生向下的压实变形,模具壁附近颗粒向下压实同时还会发生拱起变形;孔隙率变化主要发生在压制初期,即0~10 MPa压力下,上、中、下各部位（分别距顶面5,20,35 mm处）孔隙率分别减少了73%,62%和58%,压制各阶段孔隙率沿轴向由上至下递增;颗粒主要在压制方向（轴向）发生位移,模具与颗粒间的摩擦力大于颗粒间摩擦力,中部的颗粒向下发生较大位移。结果表明,X射线层析成像可无损表征造型颗粒受压过程内部结构演变,颗粒形态变化和相互接触关系揭示了受压颗粒间作用模式,颗粒位移间接反映了炸药内部应力传递情况。